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Elastic stiffness of interfaces studied by Rayleigh waves
Elastic stiffness of interfaces studied by Rayleigh waves
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Elastic stiffness of interfaces studied by Rayleigh waves

SCHWARZ, R. B ; HARMS, U ; JAIN, H

Materials science & engineering. A, Structural materials : properties, microstructure and processing, 2004, Vol.375-77, p.194-200 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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2
Dispersive transport in disordered semiconductors
Dispersive transport in disordered semiconductors
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Dispersive transport in disordered semiconductors

SCHWARZ, R

Journal of non-crystalline solids, 1998, Vol.227-30, p.148-152 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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3
The effect of surface state on the kinetics of cerium-hydride formation
The effect of surface state on the kinetics of cerium-hydride formation
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The effect of surface state on the kinetics of cerium-hydride formation

BACH, H. T ; VENHAUS, T. J ; PAGLIERI, S. N ; OONA, H ; ALLEN, T. H ; SCHWARZ, R. B ; WERMER, J. R

Journal of alloys and compounds, 2007, Vol.446-47, p.567-570 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier

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4
Fine-tuning of the spectral collection efficiency in multilayer junctions
Fine-tuning of the spectral collection efficiency in multilayer junctions
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Fine-tuning of the spectral collection efficiency in multilayer junctions

FEMANDES, M ; FANTONI, A ; LOURO, P ; LAVAREDA, G ; CARVALHO, N ; SCHWARZ, R ; VIEIRA, M

Thin solid films, 2006, Vol.511-12, p.84-88 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier Science

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5
Radiation-induced defects in a-Si:H by 1.5 MeV He4 particles studied by photoconductivity and photothermal deflection spectroscopy
Radiation-induced defects in a-Si:H by 1.5 MeV He4 particles studied by photoconductivity and photothermal deflection spectroscopy
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Radiation-induced defects in a-Si:H by 1.5 MeV He4 particles studied by photoconductivity and photothermal deflection spectroscopy

MORGADO, E ; SCHWARZ, R ; BRAZ, T ; CASTELEIRO, C ; MACARICO, A ; VIEIRA, M ; ALVES, E

Journal of non-crystalline solids, 2006, Vol.352 (9-20), p.1071-1074 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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6
Optically addressed read-write device based on tandem heterostructure
Optically addressed read-write device based on tandem heterostructure
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Optically addressed read-write device based on tandem heterostructure

VIEIRA, M ; FERNANDES, M ; FANTONI, A ; LOURO, P ; SCHWARZ, R

Journal of non-crystalline solids, 2004, Vol.338-40, p.754-757 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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7
An amorphous SIC/SI image photodetector with voltage-selectable spectral response
An amorphous SIC/SI image photodetector with voltage-selectable spectral response
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An amorphous SIC/SI image photodetector with voltage-selectable spectral response

LOURO, P ; FERNANDES, M ; FANTONI, A ; LAVAREDA, G ; NUNES DE CARVALHO, C ; SCHWARZ, R ; VIEIRA, M

Thin solid films, 2006, Vol.511-12, p.167-171 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier Science

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8
Stability of the mobility-lifetime product of holes in undoped a-Si:H under illumination
Stability of the mobility-lifetime product of holes in undoped a-Si:H under illumination
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Stability of the mobility-lifetime product of holes in undoped a-Si:H under illumination

WANG, F ; SCHWARZ, R

Journal of non-crystalline solids, 1996, Vol.198200, p.423-427 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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9
Optoelectronic characterization of a-SiC:H stacked devices
Optoelectronic characterization of a-SiC:H stacked devices
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Optoelectronic characterization of a-SiC:H stacked devices

LOURO, P ; FANTONI, A ; FERNANDES, M ; MACARICO, A ; SCHWARZ, R ; VIEIRA, M

Journal of non-crystalline solids, 2004, Vol.338-40, p.345-348 [Periódico revisado por pares]

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10
Degradation of particle detectors based on a-Si:H by 1.5 Mev He4 and 1 MeV protons
Degradation of particle detectors based on a-Si:H by 1.5 Mev He4 and 1 MeV protons
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Degradation of particle detectors based on a-Si:H by 1.5 Mev He4 and 1 MeV protons

SCHWARZ, R ; BRAZ, T ; SANGUINO, P ; FERREIRA, P ; MACARICO, A ; VIEIRA, M ; MARQUES, C. P ; ALVES, E

Journal of non-crystalline solids, 2004, Vol.338-40, p.814-817 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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  2. 1992Até1996  (18)
  3. 1997Até2001  (14)
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  5. Após 2007  (5)
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