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Refinado por: assunto: Difração Por Raios X remover assunto: Vidro remover
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1
Caracterização estrutural e óptica de pós do sistema (x/2)'Y IND.2''O IND.3'-(x/2)'Al IND.2''O IND.3'-(1-x)Si'O IND.2' dopados com Er para aplicação em fotônica
Caracterização estrutural e óptica de pós do sistema (x/2)'Y IND.2''O IND.3'-(x/2)'Al IND.2''O IND.3'-(1-x)Si'O IND.2' dopados com Er para aplicação em fotônica
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Caracterização estrutural e óptica de pós do sistema (x/2)'Y IND.2''O IND.3'-(x/2)'Al IND.2''O IND.3'-(1-x)Si'O IND.2' dopados com Er para aplicação em fotônica

Alexandre Miranda de Oliveira Jesiel Freitas Carvalho; Lauro June Queiroz Maia; Máximo Siu Li; Antônio Carlos Hernandes; Encontro de Física do Centro-Oeste (2010 Goiânia)

Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Física - SBF, 2010

São Paulo Sociedade Brasileira de Física - SBF 2010

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD017771 ) e outros locais(Acessar)

2
Deposição e caracterização filmes de Ti'O IND.2' nanoestruturados por evaporação com feixe de elétrons
Deposição e caracterização filmes de Ti'O IND.2' nanoestruturados por evaporação com feixe de elétrons
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Deposição e caracterização filmes de Ti'O IND.2' nanoestruturados por evaporação com feixe de elétrons

Fábio Simões de Vicente Maria Inês Basso Bernardi; Máximo Siu Li; Antônio Carlos Hernandes; Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC (28. 2005 Santos)

Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 2005

São Paulo Sociedade Brasileira de Física 2005

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD011096 ) e outros locais(Acessar)

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Deste Autor:

  1. Hernandes, A
  2. Siu Li, M
  3. Oliveira, A
  4. Bernardi, M
  5. Vicente, F

Neste Assunto:

  1. Vidro
  2. Difração Por Raios X
  3. Microscopia Eletrônica De Varredura
  4. Espectroscopia
  5. Filmes Finos

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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