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Estimating the probability of failure when testing reveals no failures
Estimating the probability of failure when testing reveals no failures
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Estimating the probability of failure when testing reveals no failures

Miller, K.W. ; Morell, L.J. ; Noonan, R.E. ; Park, S.K. ; Nicol, D.M. ; Murrill, B.W. ; Voas, M.

IEEE transactions on software engineering, 1992-01, Vol.18 (1), p.33-43 [Periódico revisado por pares]

Legacy CDMS: IEEE

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2
A decomposition method for optimization of large-system reliability
A decomposition method for optimization of large-system reliability
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A decomposition method for optimization of large-system reliability

Li, D. ; Haimes, Y.Y.

IEEE transactions on reliability, 1992-06, Vol.41 (2), p.183-188 [Periódico revisado por pares]

Legacy CDMS: IEEE

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3
Reliability of an m-out of-n system when component failure induces higher failure rates in survivors
Reliability of an m-out of-n system when component failure induces higher failure rates in survivors
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Reliability of an m-out of-n system when component failure induces higher failure rates in survivors

Scheuer, E.M.

IEEE transactions on reliability, 1988-04, Vol.37 (1), p.73-74 [Periódico revisado por pares]

Legacy CDMS: IEEE

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4
Ultrasonic sensing of powder densification
Ultrasonic sensing of powder densification
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Ultrasonic sensing of powder densification

Lu, Yichi ; Wadley, Haydn N. G. ; Parthasarathi, Sanjai

Journal of applied physics, 1992-02, Vol.71 (4), p.1641-1648 [Periódico revisado por pares]

Legacy CDMS: Amer Inst Physics

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5
The SURE approach to reliability analysis
The SURE approach to reliability analysis
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The SURE approach to reliability analysis

Butler, R.W.

IEEE transactions on reliability, 1992-06, Vol.41 (2), p.210-218 [Periódico revisado por pares]

Legacy CDMS: IEEE

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6
k-out-of-n:G systems: some cost considerations
k-out-of-n:G systems: some cost considerations
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k-out-of-n:G systems: some cost considerations

Suich, R.C. ; Patterson, R.L.

IEEE transactions on reliability, 1991-08, Vol.40 (3), p.259-264 [Periódico revisado por pares]

Legacy CDMS: IEEE

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7
Remote measurement of in-plane diffusivity components in plates
Remote measurement of in-plane diffusivity components in plates
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Remote measurement of in-plane diffusivity components in plates

Welch, Christopher S. ; Heath, D. Michele ; Winfree, William P.

Journal of applied physics, 1987-02, Vol.61 (3), p.895-898 [Periódico revisado por pares]

Legacy CDMS: American Institute of Physics

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8
Extended behavioral decomposition for estimating ultrahigh reliability
Extended behavioral decomposition for estimating ultrahigh reliability
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Extended behavioral decomposition for estimating ultrahigh reliability

Geist, R.

IEEE transactions on reliability, 1991-04, Vol.40 (1), p.22-28 [Periódico revisado por pares]

Legacy CDMS: IEEE

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9
Decomposition in Reliability Analysis of Fault-Tolerant Systems
Decomposition in Reliability Analysis of Fault-Tolerant Systems
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Decomposition in Reliability Analysis of Fault-Tolerant Systems

Trivedi, Kishor S. ; Geist, Robert M.

IEEE transactions on reliability, 1983-12, Vol.R-32 (5), p.463-468 [Periódico revisado por pares]

Legacy CDMS: IEEE

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10
Rainbow Net analysis of VAXcluster system availability
Rainbow Net analysis of VAXcluster system availability
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Rainbow Net analysis of VAXcluster system availability

Johnson, A.M. ; Schoenfelder, M.A.

IEEE transactions on reliability, 1991-06, Vol.40 (2), p.226-236 [Periódico revisado por pares]

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