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The Art, Science, and Engineering of Fuzzing: A Survey
The Art, Science, and Engineering of Fuzzing: A Survey
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The Art, Science, and Engineering of Fuzzing: A Survey

Manes, Valentin J.M. ; Han, HyungSeok ; Han, Choongwoo ; Cha, Sang Kil ; Egele, Manuel ; Schwartz, Edward J. ; Woo, Maverick

IEEE transactions on software engineering, 2021-11, Vol.47 (11), p.2312-2331 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Machine Learning Testing: Survey, Landscapes and Horizons
Machine Learning Testing: Survey, Landscapes and Horizons
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Machine Learning Testing: Survey, Landscapes and Horizons

Zhang, Jie M. ; Harman, Mark ; Ma, Lei ; Liu, Yang

IEEE transactions on software engineering, 2022-01, Vol.48 (1), p.1-36 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Fault Analysis and Debugging of Microservice Systems: Industrial Survey, Benchmark System, and Empirical Study
Fault Analysis and Debugging of Microservice Systems: Industrial Survey, Benchmark System, and Empirical Study
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Fault Analysis and Debugging of Microservice Systems: Industrial Survey, Benchmark System, and Empirical Study

Zhou, Xiang ; Peng, Xin ; Xie, Tao ; Sun, Jun ; Ji, Chao ; Li, Wenhai ; Ding, Dan

IEEE transactions on software engineering, 2021-02, Vol.47 (2), p.243-260 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Smart Contract Development: Challenges and Opportunities
Smart Contract Development: Challenges and Opportunities
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Smart Contract Development: Challenges and Opportunities

Zou, Weiqin ; Lo, David ; Kochhar, Pavneet Singh ; Le, Xuan-Bach Dinh ; Xia, Xin ; Feng, Yang ; Chen, Zhenyu ; Xu, Baowen

IEEE transactions on software engineering, 2021-10, Vol.47 (10), p.2084-2106 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
An Empirical Study of Fault Localization Families and Their Combinations
An Empirical Study of Fault Localization Families and Their Combinations
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An Empirical Study of Fault Localization Families and Their Combinations

Zou, Daming ; Liang, Jingjing ; Xiong, Yingfei ; Ernst, Michael D. ; Zhang, Lu

IEEE transactions on software engineering, 2021-02, Vol.47 (2), p.332-347 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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A Survey on Software Fault Localization
A Survey on Software Fault Localization
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A Survey on Software Fault Localization

Wong, W. Eric ; Ruizhi Gao ; Yihao Li ; Abreu, Rui ; Wotawa, Franz

IEEE transactions on software engineering, 2016-08, Vol.42 (8), p.707-740 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Video-Based Facial Micro-Expression Analysis: A Survey of Datasets, Features and Algorithms
Video-Based Facial Micro-Expression Analysis: A Survey of Datasets, Features and Algorithms
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Video-Based Facial Micro-Expression Analysis: A Survey of Datasets, Features and Algorithms

Ben, Xianye ; Ren, Yi ; Zhang, Junping ; Wang, Su-Jing ; Kpalma, Kidiyo ; Meng, Weixiao ; Liu, Yong-Jin

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2022-09, Vol.44 (9), p.5826-5846 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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8
A Survey on Metamorphic Testing
A Survey on Metamorphic Testing
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A Survey on Metamorphic Testing

Segura, Sergio ; Fraser, Gordon ; Sanchez, Ana B. ; Ruiz-Cortes, Antonio

IEEE transactions on software engineering, 2016-09, Vol.42 (9), p.805-824 [Periódico revisado por pares]

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9
Coverage-Based Greybox Fuzzing as Markov Chain
Coverage-Based Greybox Fuzzing as Markov Chain
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Coverage-Based Greybox Fuzzing as Markov Chain

Bohme, Marcel ; Van-Thuan Pham ; Roychoudhury, Abhik

IEEE transactions on software engineering, 2019-05, Vol.45 (5), p.489-506 [Periódico revisado por pares]

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10
Automatic Software Repair: A Survey
Automatic Software Repair: A Survey
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Automatic Software Repair: A Survey

Gazzola, Luca ; Micucci, Daniela ; Mariani, Leonardo

IEEE transactions on software engineering, 2019-01, Vol.45 (1), p.34-67 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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