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Refinado por: Nome da Publicação: Anais remover assunto: Microscopia Eletrônica De Varredura (Ferramentas) remover
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Scanning electron microscopy as a tool for failure pattern evaluation in the dentin/resin composite interface
Scanning electron microscopy as a tool for failure pattern evaluation in the dentin/resin composite interface
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Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Scanning electron microscopy as a tool for failure pattern evaluation in the dentin/resin composite interface

Mariane Brumatti A. G. V Moraes; Carlos Eduardo Francci; Liz Zanchetta D'Agostino; Henrique Kahn 1955-; Congresso da Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanálise 2009 Belo Horizonte 22.

Anais Belo Horizonte: SBMM, 2009

Belo Horizonte SBMM 2009

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