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A versatile nanoreactor for complementary in situ X‐ray and electron microscopy studies in catalysis and materials science
A versatile nanoreactor for complementary in situ X‐ray and electron microscopy studies in catalysis and materials science
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A versatile nanoreactor for complementary in situ X‐ray and electron microscopy studies in catalysis and materials science

Fam, Yakub ; Sheppard, Thomas L. ; Becher, Johannes ; Scherhaufer, Dennis ; Lambach, Heinz ; Kulkarni, Satishkumar ; Keller, Thomas F. ; Wittstock, Arne ; Wittwer, Felix ; Seyrich, Martin ; Brueckner, Dennis ; Kahnt, Maik ; Yang, Xiaogang ; Schropp, Andreas ; Stierle, Andreas ; Schroer, Christian G. ; Grunwaldt, Jan-Dierk

Journal of synchrotron radiation, 2019-09, Vol.26 (5), p.1769-1781 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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Pattern‐matching indexing of Laue and monochromatic serial crystallography data for applications in materials science
Pattern‐matching indexing of Laue and monochromatic serial crystallography data for applications in materials science
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Pattern‐matching indexing of Laue and monochromatic serial crystallography data for applications in materials science

Dejoie, Catherine ; Tamura, Nobumichi

Journal of applied crystallography, 2020-06, Vol.53 (3), p.824-836 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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Integrating hands-on practical and reflective feedback in teaching dental materials science to undergraduate dental students
Integrating hands-on practical and reflective feedback in teaching dental materials science to undergraduate dental students
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Integrating hands-on practical and reflective feedback in teaching dental materials science to undergraduate dental students

Lin, Galvin Sim Siang ; Foong, Chan Choong

European journal of dental education, 2024-04 [Periódico revisado por pares]

England

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Nanometres‐resolution Kikuchi patterns from materials science specimens with transmission electron forward scatter diffraction in the scanning electron microscope
Nanometres‐resolution Kikuchi patterns from materials science specimens with transmission electron forward scatter diffraction in the scanning electron microscope
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Nanometres‐resolution Kikuchi patterns from materials science specimens with transmission electron forward scatter diffraction in the scanning electron microscope

BRODUSCH, N. ; DEMERS, H. ; GAUVIN, R.

Journal of microscopy (Oxford), 2013-04, Vol.250 (1), p.1-14 [Periódico revisado por pares]

Oxford, UK: Blackwell Publishing Ltd

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5
The lower energy diffraction and scattering side‐bounce beamline for materials science at the Canadian Light Source
The lower energy diffraction and scattering side‐bounce beamline for materials science at the Canadian Light Source
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The lower energy diffraction and scattering side‐bounce beamline for materials science at the Canadian Light Source

Leontowich, Adam F. G. ; Gomez, Ariel ; Diaz Moreno, Beatriz ; Muir, David ; Spasyuk, Denis ; King, Graham ; Reid, Joel W. ; Kim, Chang-Yong ; Kycia, Stefan

Journal of synchrotron radiation, 2021-05, Vol.28 (3), p.961-969 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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6
(K, Na)NbO3-Based Lead-Free Piezoceramics: Fundamental Aspects, Processing Technologies, and Remaining Challenges
(K, Na)NbO3-Based Lead-Free Piezoceramics: Fundamental Aspects, Processing Technologies, and Remaining Challenges
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(K, Na)NbO3-Based Lead-Free Piezoceramics: Fundamental Aspects, Processing Technologies, and Remaining Challenges

Li, Jing-Feng ; Wang, Ke ; Zhu, Fang-Yuan ; Cheng, Li-Qian ; Yao, Fang-Zhou Green, D. J.

Journal of the American Ceramic Society, 2013-12, Vol.96 (12), p.3677-3696 [Periódico revisado por pares]

Blackwell Publishing Ltd

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7
Correlation Between the Microstructure and Electrical Properties in High‐Performance ( Ba 0.85 Ca 0.15 )( Zr 0.1 Ti 0.9 ) O 3 Lead‐Free Piezoelectric Ceramics
Correlation Between the Microstructure and Electrical Properties in High‐Performance ( Ba 0.85 Ca 0.15 )( Zr 0.1 Ti 0.9 ) O 3 Lead‐Free Piezoelectric Ceramics
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Correlation Between the Microstructure and Electrical Properties in High‐Performance ( Ba 0.85 Ca 0.15 )( Zr 0.1 Ti 0.9 ) O 3 Lead‐Free Piezoelectric Ceramics

Hao, Jigong ; Bai, Wangfeng ; Li, Wei ; Zhai, Jiwei Randall, C.

Journal of the American Ceramic Society, 2012-06, Vol.95 (6), p.1998-2006 [Periódico revisado por pares]

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8
High‐Energy Storage Performance of (Pb 0.87 Ba 0.1 La 0.02 )(Zr 0.68 Sn 0.24 Ti 0.08 )O 3 Antiferroelectric Ceramics Fabricated by the Hot‐Press Sintering Method
High‐Energy Storage Performance of (Pb 0.87 Ba 0.1 La 0.02 )(Zr 0.68 Sn 0.24 Ti 0.08 )O 3 Antiferroelectric Ceramics Fabricated by the Hot‐Press Sintering Method
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High‐Energy Storage Performance of (Pb 0.87 Ba 0.1 La 0.02 )(Zr 0.68 Sn 0.24 Ti 0.08 )O 3 Antiferroelectric Ceramics Fabricated by the Hot‐Press Sintering Method

Zhang, Guangzu ; Zhu, Dingyang ; Zhang, Xiaoshan ; Zhang, Ling ; Yi, Jinqiao ; Xie, Bing ; Zeng, Yike ; Li, Qi ; Wang, Qing ; Jiang, Shenglin Zhang, S.

Journal of the American Ceramic Society, 2015-04, Vol.98 (4), p.1175-1181 [Periódico revisado por pares]

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9
use of laser scanning confocal microscopy (LSCM) in materials science
use of laser scanning confocal microscopy (LSCM) in materials science
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use of laser scanning confocal microscopy (LSCM) in materials science

HOVIS, D.B ; HEUER, A.H

Journal of microscopy (Oxford), 2010-12, Vol.240 (3), p.173-180 [Periódico revisado por pares]

Oxford, UK: Blackwell Publishing Ltd

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10
Non‐rigid alignment in electron tomography in materials science
Non‐rigid alignment in electron tomography in materials science
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Non‐rigid alignment in electron tomography in materials science

PRINTEMPS, TONY ; BERNIER, NICOLAS ; BLEUET, PIERRE ; MULA, GUIDO ; HERVÉ, LIONEL

Journal of microscopy (Oxford), 2016-09, Vol.263 (3), p.312-319 [Periódico revisado por pares]

England: Wiley Subscription Services, Inc

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