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1
Method of HWIL simulation for the dual-mode optical sensor
Method of HWIL simulation for the dual-mode optical sensor
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Method of HWIL simulation for the dual-mode optical sensor

Yonezawa, Toru ; Kinoshita, Toshiya ; Ohtake, Ryuji ; Nakajima, Hisayuki ; Miyauchi, Hiroshi

SPIE proceedings series, 1999, Vol.3697, p.120-127

Bellingham WA: SPIE

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2
A New Test Generation Model for Broadside Transition Testing of Partial Scan Circuits
A New Test Generation Model for Broadside Transition Testing of Partial Scan Circuits
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A New Test Generation Model for Broadside Transition Testing of Partial Scan Circuits

Iwagaki, T. ; Ohtake, S. ; Fujiwara, H.

2006 IFIP International Conference on Very Large Scale Integration, 2006, p.308-313

IEEE

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