Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Artigo
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Peeking Inside the Black-Box: A Survey on Explainable Artificial Intelligence (XAI)Adadi, Amina ; Berrada, MohammedIEEE access, 2018-01, Vol.6, p.52138-52160 [Periódico revisado por pares]Piscataway: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Review of Deep Learning Algorithms and ArchitecturesShrestha, Ajay ; Mahmood, AusifIEEE access, 2019, Vol.7, p.53040-53065 [Periódico revisado por pares]Piscataway: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Machine Learning and Deep Learning Methods for CybersecurityXin, Yang ; Kong, Lingshuang ; Liu, Zhi ; Chen, Yuling ; Li, Yanmiao ; Zhu, Hongliang ; Gao, Mingcheng ; Hou, Haixia ; Wang, ChunhuaIEEE access, 2018-01, Vol.6, p.35365-35381 [Periódico revisado por pares]Piscataway: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Explainable Machine Learning for Scientific Insights and DiscoveriesRoscher, Ribana ; Bohn, Bastian ; Duarte, Marco F. ; Garcke, JochenIEEE access, 2020, Vol.8, p.42200-42216 [Periódico revisado por pares]Piscataway: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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A Survey on Digital Twin: Definitions, Characteristics, Applications, and Design ImplicationsBarricelli, Barbara Rita ; Casiraghi, Elena ; Fogli, DanielaIEEE access, 2019, Vol.7, p.167653-167671 [Periódico revisado por pares]Piscataway: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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When Intrusion Detection Meets Blockchain Technology: A ReviewWeizhi Meng ; Tischhauser, Elmar Wolfgang ; Qingju Wang ; Yu Wang ; Jinguang HanIEEE access, 2018-01, Vol.6, p.10179-10188 [Periódico revisado por pares]Piscataway: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Benchmark Analysis of Representative Deep Neural Network ArchitecturesBianco, Simone ; Cadene, Remi ; Celona, Luigi ; Napoletano, PaoloIEEE access, 2018, Vol.6, p.64270-64277 [Periódico revisado por pares]Piscataway: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Smart Factory of Industry 4.0: Key Technologies, Application Case, and ChallengesChen, Baotong ; Wan, Jiafu ; Shu, Lei ; Li, Peng ; Mukherjee, Mithun ; Yin, BoxingIEEE access, 2018-01, Vol.6, p.6505-6519 [Periódico revisado por pares]Piscataway: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Deep Learning Applications in Medical Image AnalysisKer, Justin ; Wang, Lipo ; Rao, Jai ; Lim, TchoyosonIEEE access, 2018-01, Vol.6, p.9375-9389 [Periódico revisado por pares]Piscataway: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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A Survey of Blockchain From the Perspectives of Applications, Challenges, and OpportunitiesMonrat, Ahmed Afif ; Schelen, Olov ; Andersson, KarlIEEE access, 2019, Vol.7, p.117134-117151 [Periódico revisado por pares]Piscataway: IEEETexto completo disponível |