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Analysis of the leakage drain current carriers in SOI MOSFETs operating at high-temperatures
Analysis of the leakage drain current carriers in SOI MOSFETs operating at high-temperatures
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Analysis of the leakage drain current carriers in SOI MOSFETs operating at high-temperatures

Marcello Bellodi João Antonio Martino 1959-

São Paulo EPUSP 2002

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2
Comparison between the leakage drain current behavior in SOI nMOSFETs and SOI nMOSFETs operating at 300 o. C
Comparison between the leakage drain current behavior in SOI nMOSFETs and SOI nMOSFETs operating at 300 o. C
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Comparison between the leakage drain current behavior in SOI nMOSFETs and SOI nMOSFETs operating at 300 o. C

Marcello Bellodi João Antonio Martino 1959-

Martino J.A. ed ; Pavanello, M.A. ed ; Morimoto, N.I. ed Microelectronic Technology and Devices SBMicro 2003 Pennington : Electrochemical Society, 2003

Pennington Electrochemical Society 2003

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3
Introduction to the SOI MOSFET dimension in the high-temperature leakage drain current model
Introduction to the SOI MOSFET dimension in the high-temperature leakage drain current model
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Introduction to the SOI MOSFET dimension in the high-temperature leakage drain current model

Marcello Bellodi João Antonio Martino 1959-

São Paulo EPUSP 1997

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4
The leakage current composition in thin film SOI NMOSFETS at high temperatures
The leakage current composition in thin film SOI NMOSFETS at high temperatures
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

The leakage current composition in thin film SOI NMOSFETS at high temperatures

Marcello Bellodi João Antonio Martino 1959-

Morimoto, N.I.; Ribas, R.P.; Verdonck, P.B., eds Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002 Pennington : The Electrochemical Society, 2002

Pennington The Electrochemical Society 2002

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5
Study of the leakage drain current in graded-channel SOI nMOSFETs at high-temperatures
Study of the leakage drain current in graded-channel SOI nMOSFETs at high-temperatures
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Study of the leakage drain current in graded-channel SOI nMOSFETs at high-temperatures

Marcello Bellodi João Antonio Martino 1959-

Cristoloveanu, S. et al Silicon-on-Insulator Technology and Devices XI. Pennington: Electrochemical Society, 2003

Pennington The Electrochemical Society 2003

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6
The leakage drain current behavior in graded-channel SOI nMOSFETs operating up to 300 o.C
The leakage drain current behavior in graded-channel SOI nMOSFETs operating up to 300 o.C
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

The leakage drain current behavior in graded-channel SOI nMOSFETs operating up to 300 o.C

Marcello Bellodi João Antonio Martino 1959-

Martino J.A.; Pavanello, M.A.; Morimoto, N.I. eds Microelectronic Technology and Devices SBMicro 2003 Pennington : Electrochemical Society, 2003

Pennington Electrochemical Society 2003

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7
Caracterizacao eletrica de transistores soi mosfet em altas temperaturas
Caracterizacao eletrica de transistores soi mosfet em altas temperaturas
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Caracterizacao eletrica de transistores soi mosfet em altas temperaturas

Marcello Bellodi João Antonio Martino 1959-; Seminario Brasileiro de Caracterizacao em Microeletronica (2. 1995 Curitiba)

Anais Curitiba : Copel, 1995

Curitiba Copel 1995

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8
Components of the leakage current in enhancement-mode SOI nMOSFETs at high temperature. (em CD-Rom)
Components of the leakage current in enhancement-mode SOI nMOSFETs at high temperature. (em CD-Rom)
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Components of the leakage current in enhancement-mode SOI nMOSFETs at high temperature. (em CD-Rom)

Marcello Bellodi João Antonio Martino 1959-; Conference of the Brazilian Microelectronics Society (12. 1997 Caxambu)

Proceedings Itajubá : SBMICRO/EFEI, 1997

Itajubá SBMICRO/EFEI 1997

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9
Temperature influences on the drain leakage current behavior in graded-channel SOI nMOSFETs
Temperature influences on the drain leakage current behavior in graded-channel SOI nMOSFETs
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Temperature influences on the drain leakage current behavior in graded-channel SOI nMOSFETs

Marcello Bellodi João Antonio Martino 1959-; International Symposium on Microelectronics Technology and Devices SBMICRO (20. 2005 Florianópolis)

Claeys, C.; Swart, J. W.; Morimoto, N. I.; Verdonck, P., eds. Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2005 Pennington : The Electrochemical Society, 2005. Proceedings v. 2005-08

Pennington The Electrochemical Society 2005

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10
Accumulation-mode SOI pMOSFETs at high-temperatures
Accumulation-mode SOI pMOSFETs at high-temperatures
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Accumulation-mode SOI pMOSFETs at high-temperatures

Marcello Bellodi João Antonio Martino 1959-; Silicon on Insulation Technology and Devices (9. 1999 Washington)

Electrochemical Society. Proceedings Pennington v. 99-93, p. 287-292, 1999

Pennington 1999

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