skip to main content
Idioma:
Primo Advanced Search
Primo Advanced Search Query Term
Primo Advanced Search Query Term
Primo Advanced Search Query Term
Primo Advanced Search prefilters
Busca Simples
Resultados 1 2 3 4 5 next page
Mostrar Somente
Refinado por: assunto: Exact Sciences And Technology remover assunto: Materials Science remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Low-Temperature Processed Electron Collection Layers of Graphene/TiO2 Nanocomposites in Thin Film Perovskite Solar Cells
Low-Temperature Processed Electron Collection Layers of Graphene/TiO2 Nanocomposites in Thin Film Perovskite Solar Cells
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Low-Temperature Processed Electron Collection Layers of Graphene/TiO2 Nanocomposites in Thin Film Perovskite Solar Cells

Wang, Jacob Tse-Wei ; Ball, James M ; Barea, Eva M ; Abate, Antonio ; Alexander-Webber, Jack A ; Huang, Jian ; Saliba, Michael ; Mora-Sero, Iván ; Bisquert, Juan ; Snaith, Henry J ; Nicholas, Robin J

Nano letters, 2014-02, Vol.14 (2), p.724-730 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Chemical Society

Texto completo disponível

Citações Citado por
2
Abnormal Temperature-Dependent Electron Transport in Hole Transport Material N,N′‑Diphenyl‑N,N′‑bis(3- methylphenyl)-[1,1′-biphenyl]-4,4′-diamine (TPD)
Abnormal Temperature-Dependent Electron Transport in Hole Transport Material N,N′‑Diphenyl‑N,N′‑bis(3- methylphenyl)-[1,1′-biphenyl]-4,4′-diamine (TPD)
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Abnormal Temperature-Dependent Electron Transport in Hole Transport Material N,N′‑Diphenyl‑N,N′‑bis(3- methylphenyl)-[1,1′-biphenyl]-4,4′-diamine (TPD)

He, Yun ; Hu, Yongmao ; Chen, Xiaoqing ; Peng, Huan ; You, Yintao ; Zeng, Qi ; Gao, Xindong ; Hou, Xiaoyuan

Journal of physical chemistry. C, 2013-05, Vol.117 (18), p.9143-9147 [Periódico revisado por pares]

Columbus, OH: American Chemical Society

Texto completo disponível

Citações Citado por
3
Elevated temperature characterization of electron beam freeform fabricated Ti–6Al–4V and dispersion strengthened Ti–8Al–1Er
Elevated temperature characterization of electron beam freeform fabricated Ti–6Al–4V and dispersion strengthened Ti–8Al–1Er
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Elevated temperature characterization of electron beam freeform fabricated Ti–6Al–4V and dispersion strengthened Ti–8Al–1Er

Bush, R.W. ; Brice, C.A.

Materials science & engineering. A, Structural materials : properties, microstructure and processing, 2012-09, Vol.554, p.12-21 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier B.V

Texto completo disponível

Citações Citado por
4
Electron emission from CVD diamond p– i– n junctions with negative electron affinity during room temperature operation
Electron emission from CVD diamond p– i– n junctions with negative electron affinity during room temperature operation
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Electron emission from CVD diamond p– i– n junctions with negative electron affinity during room temperature operation

Takeuchi, D. ; Makino, T. ; Kato, H. ; Ogura, M. ; Tokuda, N. ; Oyama, K. ; Matsumoto, T. ; Okushi, H. ; Yamasaki, S.

Diamond and related materials, 2011-07, Vol.20 (7), p.917-921 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

Texto completo disponível

Citações Citado por
5
Electron number and electron temperature evolution in the initial discharge phase of a shadow mask plasma display panel
Electron number and electron temperature evolution in the initial discharge phase of a shadow mask plasma display panel
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Electron number and electron temperature evolution in the initial discharge phase of a shadow mask plasma display panel

Zhang, Panpan ; Tu, Yan ; Tolner, Harm ; Yang, Lanlan

Thin solid films, 2012-10, Vol.521, p.34-37 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

Texto completo disponível

Citações Citado por
6
In situ studies on the shrinkage and expansion of graphene nanopores under electron beam irradiation at temperatures in the range of 400–1200°C
In situ studies on the shrinkage and expansion of graphene nanopores under electron beam irradiation at temperatures in the range of 400–1200°C
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

In situ studies on the shrinkage and expansion of graphene nanopores under electron beam irradiation at temperatures in the range of 400–1200°C

Lu, Ning ; Wang, Jinguo ; Floresca, Herman C. ; Kim, Moon J.

Carbon (New York), 2012-07, Vol.50 (8), p.2961-2965 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

Texto completo disponível

Citações Citado por
7
Influence of annealing temperature on the electron–lattice coupling strength in terbium doped yttrium alumina perovskite xerogels embedded in nano-porous anodic alumina
Influence of annealing temperature on the electron–lattice coupling strength in terbium doped yttrium alumina perovskite xerogels embedded in nano-porous anodic alumina
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Influence of annealing temperature on the electron–lattice coupling strength in terbium doped yttrium alumina perovskite xerogels embedded in nano-porous anodic alumina

Zatryb, G. ; Podhorodecki, A. ; Banski, M. ; Misiewicz, J. ; Gaponenko, N.V.

Optical materials, 2013-04, Vol.35 (6), p.1230-1235 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier B.V

Texto completo disponível

Citações Citado por
8
The epitaxial growth of sputtered silicon layers on differently oriented substrates at low temperature – An electron microscopic study
The epitaxial growth of sputtered silicon layers on differently oriented substrates at low temperature – An electron microscopic study
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The epitaxial growth of sputtered silicon layers on differently oriented substrates at low temperature – An electron microscopic study

Sieber, I. ; Urban, I. ; Schubert-Bischoff, P.

Journal of non-crystalline solids, 2007-08, Vol.353 (26), p.2550-2556 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

Texto completo disponível

Citações Citado por
9
DLTS Studies of high-temperature electron irradiated Cz n-Si
DLTS Studies of high-temperature electron irradiated Cz n-Si
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

DLTS Studies of high-temperature electron irradiated Cz n-Si

Neimash, V. ; Kras'ko, M. ; Kraitchinskii, A. ; Voytovych, V. ; Tishchenko, V. ; Simoen, E. ; Rafi, J. M. ; Claeys, C. ; Versluys, J. ; De Gryse, O. ; Clauws, P.

Physica status solidi. A, Applied research, 2004-02, Vol.201 (3), p.509-516 [Periódico revisado por pares]

Berlin: WILEY-VCH Verlag

Texto completo disponível

Citações Citado por
10
Polymer microcavities by room temperature electron-beam evaporation of TiOx and SiOx
Polymer microcavities by room temperature electron-beam evaporation of TiOx and SiOx
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Polymer microcavities by room temperature electron-beam evaporation of TiOx and SiOx

PERSANO, Luana ; MELE, Elisa ; PISIGNANO, Dario ; FRASCERRA, Vanessa ; CINGOLANI, Roberto

Synthetic metals, 2005-09, Vol.153 (1-3), p.329-332 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier Science

Texto completo disponível

Citações Citado por
Resultados 1 2 3 4 5 next page

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Mostrar Somente

  1. Revistas revisadas por pares (112.430)

Refinar Meus Resultados

Tipo de Recurso 

  1. Artigos  (120.484)
  2. Anais de Congresso  (1.023)
  3. magazinearticle  (97)
  4. Resenhas  (2)
  5. Livros  (1)
  6. Mais opções open sub menu

Data de Publicação 

De até
Refinar
  1. Antes de1988  (5.511)
  2. 1988Até1994  (14.227)
  3. 1995Até2001  (19.296)
  4. 2002Até2009  (44.289)
  5. Após 2009  (38.305)
  6. Mais opções open sub menu

Idioma 

  1. Japonês  (25.121)
  2. Alemão  (139)
  3. Espanhol  (8)
  4. Holandês  (7)
  5. Francês  (5)
  6. Chinês  (3)
  7. Sueco  (1)
  8. Norueguês  (1)
  9. Mais opções open sub menu

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.