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X-ray spectrometry : recent technological advances
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X-ray spectrometry : recent technological advances

Kouichi Tsuji; Jasna Injuk; R. van Grieken (René)

Chichester, West Sussex, England ; Wiley, Hoboken, NJ, USA c2004

Localização: IF - Instituto de Física    (543.62 T882x ex.2 )(Acessar)

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Deste Autor:

  1. Injuk, J
  2. Tsuji, K
  3. Grieken, R

Neste Assunto:

  1. Spectrometry, X-Ray Emission
  2. X-Ray Spectroscopy
  3. Chemistry, Analytical
  4. Espectrometria

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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