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1
Evaluation of the heterostructure ITO/BiVO4 under blue monochromatic light irradiation for photoelectrochemical application
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Evaluation of the heterostructure ITO/BiVO4 under blue monochromatic light irradiation for photoelectrochemical application

da Silva Pelissari, M. R. ; Scalvi, L. V. A. ; Neto, V. S. L. ; Dall’Antonia, L. H.

Journal of materials science. Materials in electronics, 2020-02, Vol.31 (4), p.2833-2844 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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2
Dip-coating deposition of BiVO4/NiO p–n heterojunction thin film and efficiency for methylene blue degradation
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Dip-coating deposition of BiVO4/NiO p–n heterojunction thin film and efficiency for methylene blue degradation

da Silva, M. R. ; Scalvi, L. V. A. ; Neto, Vanildo Souza Leão ; Dall’Antonia, L. H.

Journal of materials science. Materials in electronics, 2015-10, Vol.26 (10), p.7705-7714 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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3
Dip-coating deposition of resistive BiVO4 thin film and evaluation of their photoelectrochemical parameters under distinct sources illumination
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Dip-coating deposition of resistive BiVO4 thin film and evaluation of their photoelectrochemical parameters under distinct sources illumination

da Silva, M. R. ; Scalvi, L. V. A. ; Neto, V. S. L. ; Dall’Antonia, L. H.

Journal of solid state electrochemistry, 2016-06, Vol.20 (6), p.1527-1538 [Periódico revisado por pares]

Berlin/Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg

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4
Decay of photo-excited conductivity of Er-doped SnO2 thin films
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Decay of photo-excited conductivity of Er-doped SnO2 thin films

MORAIS, Evandro A ; SCALVI, Luis V. A

Journal of materials science, 2007-04, Vol.42 (7), p.2216-2221 [Periódico revisado por pares]

Heidelberg: Springer

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5
Dip-coating deposition of BiVO^sub 4^/NiO p-n heterojunction thin film and efficiency for methylene blue degradation
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Artigo
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Dip-coating deposition of BiVO^sub 4^/NiO p-n heterojunction thin film and efficiency for methylene blue degradation

Da Silva, M R ; Scalvi, L V; A ; Neto, Vanildo Souza; Leão ; Dall'antonia, L H

Journal of materials science. Materials in electronics, 2015-10, Vol.26 (10), p.7705 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer Nature B.V

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6
Deposition and characterization of BiVO4 thin films and evaluation as photoanodes for methylene blue degradation
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Deposition and characterization of BiVO4 thin films and evaluation as photoanodes for methylene blue degradation

da Silva, M. R. ; Dall’Antonia, L. H. ; Scalvi, L. V. A. ; dos Santos, D. I. ; Ruggiero, L. O. ; Urbano, A.

Journal of solid state electrochemistry, 2012-10, Vol.16 (10), p.3267-3274 [Periódico revisado por pares]

Berlin/Heidelberg: Springer-Verlag

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7
Growth of Al2O3 thin film by oxidation of resistively evaporated Al on top of SnO2, and electrical properties of the heterojunction SnO2/Al2O3
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Growth of Al2O3 thin film by oxidation of resistively evaporated Al on top of SnO2, and electrical properties of the heterojunction SnO2/Al2O3

Maciel, Jorge L. B. ; Floriano, Emerson A. ; Scalvi, Luis V. A. ; Ravaro, Leandro P.

Journal of materials science, 2011-10, Vol.46 (20), p.6627-6632 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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8
Photoluminescence of Eu3+ ion in SnO2 obtained by sol–gel
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Photoluminescence of Eu3+ ion in SnO2 obtained by sol–gel

Morais, Evandro A ; Scalvi, Luis V. A ; Tabata, Américo ; De Oliveira, José B. B ; Ribeiro, Sidney J. L

Journal of materials science, 2008, Vol.43 (1), p.345-349 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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9
Numerical simulation of the liquid phase in SnO2 thin film deposition by sol-gel-dip-coating
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Numerical simulation of the liquid phase in SnO2 thin film deposition by sol-gel-dip-coating

Carvalho, Dayene M. ; Maciel, Jorge L. B. ; Ravaro, Leandro P. ; Garcia, Rogério E. ; Ferreira, Valdemir G. ; Scalvi, Luis V. A.

Journal of sol-gel science and technology, 2010-09, Vol.55 (3), p.385-393 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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10
Photoluminescence of Eu ion in SnO2 obtained by sol-gel
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Artigo
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Photoluminescence of Eu ion in SnO2 obtained by sol-gel

Morais, Evandro A ; Scalvi, Luis V A ; Tabata, Americo ; De Oliveira, Jose B B ; Ribeiro, Sidney J L

Journal of materials science, 2008-01, Vol.43 (1), p.345-349 [Periódico revisado por pares]

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