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Structure of materials an introduction to crystallography, diffraction and symmetry
Structure of materials an introduction to crystallography, diffraction and symmetry
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Structure of materials an introduction to crystallography, diffraction and symmetry

Marc De Graef Michael E McHenry

Cambridge Cambridge University Press 2007

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Unveiling the Interaction Mechanisms of Electron and X‐ray Radiation with Halide Perovskite Semiconductors using Scanning Nanoprobe Diffraction
Unveiling the Interaction Mechanisms of Electron and X‐ray Radiation with Halide Perovskite Semiconductors using Scanning Nanoprobe Diffraction
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Unveiling the Interaction Mechanisms of Electron and X‐ray Radiation with Halide Perovskite Semiconductors using Scanning Nanoprobe Diffraction

Ferrer Orri, Jordi ; Doherty, Tiarnan A.S. ; Johnstone, Duncan ; Collins, Sean M. ; Simons, Hugh ; Midgley, Paul A. ; Ducati, Caterina ; Stranks, Samuel D.

Advanced materials (Weinheim), 2022-05, Vol.34 (18), p.e2200383-n/a [Periódico revisado por pares]

Germany: Wiley Subscription Services, Inc

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3
Idealized powder diffraction patterns for cellulose polymorphs
Idealized powder diffraction patterns for cellulose polymorphs
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Idealized powder diffraction patterns for cellulose polymorphs

French, Alfred D

Cellulose (London), 2014-04, Vol.21 (2), p.885-896 [Periódico revisado por pares]

Dordrecht: Springer-Verlag

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4
Plasmonic Surface Lattice Resonances: A Review of Properties and Applications
Plasmonic Surface Lattice Resonances: A Review of Properties and Applications
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Plasmonic Surface Lattice Resonances: A Review of Properties and Applications

Kravets, V. G ; Kabashin, A. V ; Barnes, W. L ; Grigorenko, A. N

Chemical reviews, 2018-06, Vol.118 (12), p.5912-5951 [Periódico revisado por pares]

United States: American Chemical Society

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Resolving pseudosymmetry in γ‐TiAl using cross‐correlation electron backscatter diffraction with dynamically simulated reference patterns
Resolving pseudosymmetry in γ‐TiAl using cross‐correlation electron backscatter diffraction with dynamically simulated reference patterns
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Resolving pseudosymmetry in γ‐TiAl using cross‐correlation electron backscatter diffraction with dynamically simulated reference patterns

Jackson, Brian ; Fullwood, David ; Christensen, Jordan ; Wright, Stuart

Journal of applied crystallography, 2018-06, Vol.51 (3), p.655-669 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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Facile synthesis of yolk–shell Ni@void@SnO2(Ni3Sn2) ternary composites via galvanic replacement/Kirkendall effect and their enhanced microwave absorption properties
Facile synthesis of yolk–shell Ni@void@SnO2(Ni3Sn2) ternary composites via galvanic replacement/Kirkendall effect and their enhanced microwave absorption properties
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Facile synthesis of yolk–shell Ni@void@SnO2(Ni3Sn2) ternary composites via galvanic replacement/Kirkendall effect and their enhanced microwave absorption properties

Zhao, Biao ; Guo, Xiaoqin ; Zhao, Wanyu ; Deng, Jiushuai ; Fan, Bingbing ; Shao, Gang ; Bai, Zhongyi ; Zhang, Rui

Nano research, 2017, Vol.10 (1), p.331-343 [Periódico revisado por pares]

Beijing: Tsinghua University Press

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7
Structure elucidation of BaSi2O2N2 : A host lattice for rare-earth doped luminescent materials in phosphor-converted (pc)-LEDs
Structure elucidation of BaSi2O2N2 : A host lattice for rare-earth doped luminescent materials in phosphor-converted (pc)-LEDs
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Structure elucidation of BaSi2O2N2 : A host lattice for rare-earth doped luminescent materials in phosphor-converted (pc)-LEDs

KECHELE, Juliane A ; OECKLER, Oliver ; STADLER, Florian ; SCHNICK, Wolfgang

Solid state sciences, 2009-02, Vol.11 (2), p.537-543 [Periódico revisado por pares]

Issy-les-Moulineaux: Elsevier Masson

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Inversion of Many-Beam Bragg Intensities for Phasing by Iterated Projections: Removal of Multiple Scattering Artifacts from Diffraction Data
Inversion of Many-Beam Bragg Intensities for Phasing by Iterated Projections: Removal of Multiple Scattering Artifacts from Diffraction Data
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Inversion of Many-Beam Bragg Intensities for Phasing by Iterated Projections: Removal of Multiple Scattering Artifacts from Diffraction Data

Donatelli, Jeffrey J. ; Spence, John C. H.

Physical review letters, 2020-08, Vol.125 (6), p.1-065502, Article 065502 [Periódico revisado por pares]

College Park: American Physical Society

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Biological Imaging by Soft X-ray Diffraction Microscopy
Biological Imaging by Soft X-ray Diffraction Microscopy
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Biological Imaging by Soft X-ray Diffraction Microscopy

Shapiro, David ; Thibault, Pierre ; Beetz, Tobias ; Elser, Veit ; Malcolm Howells ; Jacobsen, Chris ; Kirz, Janos ; Enju Lima ; Huijie Miao ; Neiman, Aaron M. ; Sayre, David

Proceedings of the National Academy of Sciences - PNAS, 2005-10, Vol.102 (43), p.15343-15346 [Periódico revisado por pares]

United States: National Academy of Sciences

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10
The Materials Science beamline upgrade at the Swiss Light Source
The Materials Science beamline upgrade at the Swiss Light Source
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The Materials Science beamline upgrade at the Swiss Light Source

Willmott, P. R. ; Meister, D. ; Leake, S. J. ; Lange, M. ; Bergamaschi, A. ; Böge, M. ; Calvi, M. ; Cancellieri, C. ; Casati, N. ; Cervellino, A. ; Chen, Q. ; David, C. ; Flechsig, U. ; Gozzo, F. ; Henrich, B. ; Jäggi-Spielmann, S. ; Jakob, B. ; Kalichava, I. ; Karvinen, P. ; Krempasky, J. ; Lüdeke, A. ; Lüscher, R. ; Maag, S. ; Quitmann, C. ; Reinle-Schmitt, M. L. ; Schmidt, T. ; Schmitt, B. ; Streun, A. ; Vartiainen, I. ; Vitins, M. ; Wang, X. ; Wullschleger, R.

Journal of synchrotron radiation, 2013-09, Vol.20 (5), p.667-682 [Periódico revisado por pares]

5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England: International Union of Crystallography

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  1. De Graef, M
  2. McHenry, M

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  1. Materials Science
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  4. Technology
  5. Materials Science, Multidisciplinary

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