Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Livro
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Material Type: Livro
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Circuitos eletrônicosVolnei A PedroniRio de Janeiro LTC c1986Localização: EPELM - Esc. Politécnica-Bib Eng Elet., Mec. e Naval (621.38.04 P343c )(Acessar) |
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Material Type: Livro
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Analog Circuit Design: Art, Science, and PersonalitiesWilliams, JimSan Diego: Elsevier Science & Technology 1991Texto completo disponível |
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Material Type: Livro
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Teoria e desenvolvimento de projetos de circuitos eletrônicosAntonio Marco Vicari Cipelli Waldir João SandriniSão Paulo Érica 1984Localização: EEL - Biotecnologia e Química (621.38 C495t 8ed. ) e outros locais(Acessar) |
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5 |
Material Type: Livro
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Circuitos eletronicos resumo da teoria, 89 problemas resolvidos, 171 problemas propostosEdwin C LowenbergSão Paulo McGraw-Hill 1977Localização: EEL - Biotecnologia e Química (621.38 L951c ex.5 ) e outros locais(Acessar) |
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6 |
Material Type: Livro
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Interfaces, Quantum Wells, and SuperlatticesLeavens, C. Richard ; Taylor, RogerNew York, NY: Springer 1988Texto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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A 20-V four-quadrant CMOS analog multiplierBabanezhad, J.N. ; Temes, G.C.IEEE journal of solid-state circuits, 1985-12, Vol.20 (6), p.1158-1168 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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The Current Mode Fuzzy Logic Integrated Circuits Fabricated by the Standard CMOS ProcessYAMAKAWA, T ; MIKI, TIEEE transactions on computers, 1986-02, Vol.C-35 (2), p.161-167 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Ata de Congresso
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COMPACTEST: A METHOD TO GENERATE COMPACT TEST SETS FOR COMBINATIONAL CIRCUITSPomeranz, I. ; Reddy, L.N. ; Reddy, S.M.1991, Proceedings. International Test Conference, 1991, p.194IEEETexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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AlGaAs/InGaAs/GaAs quantum well doped channel heterostructure field effect transistorsRuden, P.P. ; Shur, M. ; Akinwande, A.I. ; Nohava, J.C. ; Grider, D.E. ; Baek, J.IEEE transactions on electron devices, 1990-10, Vol.37 (10), p.2171-2175 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |