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High intrinsic energy resolution photon number resolving detectors
High intrinsic energy resolution photon number resolving detectors
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High intrinsic energy resolution photon number resolving detectors

Lolli, L. ; Taralli, E. ; Portesi, C. ; Monticone, E. ; Rajteri, M.

Applied physics letters, 2013-07, Vol.103 (4) [Periódico revisado por pares]

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Demonstration of MHz frequency domain multiplexing readout of 37 transition edge sensors for high-resolution x-ray imaging spectrometers
Demonstration of MHz frequency domain multiplexing readout of 37 transition edge sensors for high-resolution x-ray imaging spectrometers
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Demonstration of MHz frequency domain multiplexing readout of 37 transition edge sensors for high-resolution x-ray imaging spectrometers

Akamatsu, H. ; Vaccaro, D. ; Gottardi, L. ; van der Kuur, J. ; de Vries, C. P. ; Kiviranta, M. ; Ravensberg, K. ; D'Andrea, M. ; Taralli, E. ; de Wit, M. ; Bruijn, M. P. ; van der Hulst, P. ; den Hartog, R. H. ; van Leeuwen, B.-J. ; van der Linden, A. J. ; McCalden, A. J. ; Nagayoshi, K. ; Nieuwenhuizen, A. C. T. ; Ridder, M. L. ; Visser, S. ; van Winden, P. ; Gao, J. R. ; Hoogeveen, R. W. M. ; Jackson, B. D. ; den Herder, J.-W. A.

Applied physics letters, 2021-11, Vol.119 (18) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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Frequency shift algorithm: Application to a frequency-domain multiplexing readout of x-ray transition-edge sensor microcalorimeters
Frequency shift algorithm: Application to a frequency-domain multiplexing readout of x-ray transition-edge sensor microcalorimeters
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Frequency shift algorithm: Application to a frequency-domain multiplexing readout of x-ray transition-edge sensor microcalorimeters

Vaccaro, D. ; Akamatsu, H. ; van der Kuur, J. ; van der Hulst, P. ; Nieuwenhuizen, A. C. T. ; van Winden, P. ; Gottardi, L. ; den Hartog, R. ; Bruijn, M. P. ; D’Andrea, M. ; Gao, J. R. ; den Herder, J. W. A. ; Hoogeveen, R. W. M. ; Jackson, B. ; van der Linden, A. J. ; Nagayoshi, K. ; Ravensberg, K. ; Ridder, M. L. ; Taralli, E. ; de Wit, M.

Review of scientific instruments, 2021-03, Vol.92 (3), p.033103-033103 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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