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11	Material Type: Artigo		All-optical NOT and XOR logic gates using photonic crystal nano-resonator and based on an interference effect Mohebzadeh-Bahabady, Ahmad ; Olyaee, Saeed IET optoelectronics, 2018-08, Vol.12 (4), p.191-195 [Periódico revisado por pares] The Institution of Engineering and Technology Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
12	Material Type: Artigo		A Novel White Light Interference Based AFM Head Yang, Wenjun ; Yang, Xiaojun ; Lu, Wenlong ; Yu, Nengguo ; Chen, Liangzhou ; Zhou, Liping ; Chang, Suping Journal of lightwave technology, 2017-08, Vol.35 (16), p.3604-3610 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
13	Material Type: Artigo		Resonantly enhanced all-optical switching in microfibre Mach–Zehnder interferometers Kowsari, A ; Saghaei, H Electronics letters, 2018-02, Vol.54 (4), p.229-231 [Periódico revisado por pares] The Institution of Engineering and Technology Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
14	Material Type: Artigo		Improved zero-order fringe positioning algorithms in white light interference based atomic force microscopy Hu, Chi ; Liu, Xiaojun ; Yang, Wenjun ; Lu, Wenlong ; Yu, Nengguo ; Chang, Suping Optics and lasers in engineering, 2018-01, Vol.100, p.71-76 [Periódico revisado por pares] Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
15	Material Type: Artigo		Application of imaging ellipsometry and white light interference microscopy for detection of defects in epitaxially grown 4H–SiC layers Ermilova, Elena ; Weise, Matthias ; Hertwig, Andreas Segonds, Patricia ; Descrovi, Emiliano ; Pauliat, Gilles Journal of the European Optical Society. Rapid publications, 2023, Vol.19 (1), p.23 [Periódico revisado por pares] EDP Sciences Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
16	Material Type: Artigo		Silicon-Cantilever-Enhanced Single-Fiber Photoacoustic Acetylene Gas Sensor Zhang, Zhengyuan ; Fan, Xinhong ; Xu, Yufu ; Wang, Yongqi ; Tang, Yiyao ; Zhao, Rui ; Li, Chenxi ; Wang, Heng ; Chen, Ke Sensors (Basel, Switzerland), 2023-09, Vol.23 (17), p.7644 [Periódico revisado por pares] Basel: MDPI AG Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
17	Material Type: Artigo		Measurement of nanoscale displacements using a Mirau white-light interference microscope and an inclined flat surface Phan, Nhue Nguyen ; Le, Hai Hoang ; Duong, Dung Chi ; Ta, Duong Van Optical engineering, 2019-06, Vol.58 (6), p.1 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
18	Material Type: Artigo		Red light irradiation as an intervention for myopia Huang, Zhu ; He, Ting ; Zhang, Junna ; Du, Chixin Indian journal of ophthalmology, 2022-09, Vol.70 (9), p.3198-3201 [Periódico revisado por pares] Mumbai: Wolters Kluwer India Pvt. Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
19	Material Type: Artigo		Color variations based on strong-interference effects in oxygen-defective tetragonal ZrO2–x films in nanometer thickness produced by oxidation of zirconium metal foil Himeno, Yuta ; Matsuda, Mitsuhiro ; Shida, Kenji ; Matsuda, Motohide Scripta materialia, 2021-10, Vol.203, Article 114101 [Periódico revisado por pares] Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
20	Material Type: Artigo		Simultaneous Monitoring of Penetration Status and Joint Tracking During Laser Keyhole Welding Zhang, Yi ; Liu, Tongwei ; Li, Bin ; Zhang, Zhehao IEEE/ASME transactions on mechatronics, 2019-08, Vol.24 (4), p.1732-1742 [Periódico revisado por pares] IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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