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Analysis of the leakage drain current carriers in SOI MOSFETs operating at high-temperatures
Analysis of the leakage drain current carriers in SOI MOSFETs operating at high-temperatures
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Analysis of the leakage drain current carriers in SOI MOSFETs operating at high-temperatures

Marcello Bellodi João Antonio Martino 1959-

São Paulo EPUSP 2002

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2
Estudo de filmes de oxido de tantalo
Estudo de filmes de oxido de tantalo
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo de filmes de oxido de tantalo

M A Valle

São Paulo Lme-Usp 1988

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3
New methods for determining the silicon film doping concentration and the back interface oxide charge density using SOI-MOS capacitor
New methods for determining the silicon film doping concentration and the back interface oxide charge density using SOI-MOS capacitor
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

New methods for determining the silicon film doping concentration and the back interface oxide charge density using SOI-MOS capacitor

Victor Sonnenberg João Antonio Martino 1959-

São Paulo EPUSP 2002

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4
Resistor em filme fino
Resistor em filme fino
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Resistor em filme fino

M Saito M H Cordaro; M A Valle

Sao Paulo Lme-Usp 1988

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5
Highly conductive N-Type micron s-Si:H films deposited at very low temperature
Highly conductive N-Type micron s-Si:H films deposited at very low temperature
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Highly conductive N-Type micron s-Si:H films deposited at very low temperature

Alexandre Mantovani Nardes Ely Antonio Tadeu Dirani

São Paulo EPUSP 2002

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6
A new technique to extract the oxide charge density at front and back interfaces of SOI nMOSFETs devices
A new technique to extract the oxide charge density at front and back interfaces of SOI nMOSFETs devices
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

A new technique to extract the oxide charge density at front and back interfaces of SOI nMOSFETs devices

Aparecido Sirley Nicolett João Antonio Martino 1959-

São Paulo EPUSP 2002

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7
Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS
Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS

Marcelo Silva Guimarães Amilton Sinatora 1951-

São Paulo Abcm 2002

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8
Uso de filme fino adsorvente para o desenvolvimento de sistemas de retenção de compostos orgânicos
Uso de filme fino adsorvente para o desenvolvimento de sistemas de retenção de compostos orgânicos
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Uso de filme fino adsorvente para o desenvolvimento de sistemas de retenção de compostos orgânicos

Leonardo Frois Hernandez Maria Lucia Pereira da Silva 1957-

São Paulo EPUSP 2007

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9
Avaliação da adsorção de compostos orgânicos por filmes finos metálicos
Avaliação da adsorção de compostos orgânicos por filmes finos metálicos
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Avaliação da adsorção de compostos orgânicos por filmes finos metálicos

Alexsander Tressino de Carvalho Maria Lucia Pereira da Silva 1957-

São Paulo EPUSP 2005

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10
SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films a brief review of SAXS theories
SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films a brief review of SAXS theories
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films a brief review of SAXS theories

Mauro Sérgio Dorsa Cattani Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori; Fernanda de Sá Teixeira

São Paulo 2009

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  1. Salvadori, M
  2. Cattani, M
  3. Teixeira, F
  4. Martino, J
  5. Silva, M

Neste Assunto:

  1. Filmes Finos
  2. Difração Por Raios X
  3. Física Atômica
  4. Bismuto
  5. Filmes Finos (Propriedades Termomecânicas)

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