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1	Material Type: Artigo		The Art, Science, and Engineering of Fuzzing: A Survey Manes, Valentin J.M. ; Han, HyungSeok ; Han, Choongwoo ; Cha, Sang Kil ; Egele, Manuel ; Schwartz, Edward J. ; Woo, Maverick IEEE transactions on software engineering, 2021-11, Vol.47 (11), p.2312-2331 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Machine Learning Testing: Survey, Landscapes and Horizons Zhang, Jie M. ; Harman, Mark ; Ma, Lei ; Liu, Yang IEEE transactions on software engineering, 2022-01, Vol.48 (1), p.1-36 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		A Survey on Software Fault Localization Wong, W. Eric ; Ruizhi Gao ; Yihao Li ; Abreu, Rui ; Wotawa, Franz IEEE transactions on software engineering, 2016-08, Vol.42 (8), p.707-740 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Smart Contract Development: Challenges and Opportunities Zou, Weiqin ; Lo, David ; Kochhar, Pavneet Singh ; Le, Xuan-Bach Dinh ; Xia, Xin ; Feng, Yang ; Chen, Zhenyu ; Xu, Baowen IEEE transactions on software engineering, 2021-10, Vol.47 (10), p.2084-2106 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		Nopol: Automatic Repair of Conditional Statement Bugs in Java Programs Jifeng Xuan ; Martinez, Matias ; DeMarco, Favio ; Clement, Maxime ; Lamelas Marcote, Sebastian ; Durieux, Thomas ; Le Berre, Daniel ; Monperrus, Martin IEEE transactions on software engineering, 2017-01, Vol.43 (1), p.34-55 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		Fault Analysis and Debugging of Microservice Systems: Industrial Survey, Benchmark System, and Empirical Study Zhou, Xiang ; Peng, Xin ; Xie, Tao ; Sun, Jun ; Ji, Chao ; Li, Wenhai ; Ding, Dan IEEE transactions on software engineering, 2021-02, Vol.47 (2), p.243-260 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		An Empirical Study of Fault Localization Families and Their Combinations Zou, Daming ; Liang, Jingjing ; Xiong, Yingfei ; Ernst, Michael D. ; Zhang, Lu IEEE transactions on software engineering, 2021-02, Vol.47 (2), p.332-347 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		The Oracle Problem in Software Testing: A Survey Barr, Earl T. ; Harman, Mark ; McMinn, Phil ; Shahbaz, Muzammil ; Shin Yoo IEEE transactions on software engineering, 2015-05, Vol.41 (5), p.507-525 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Closing the Gap Between Software Engineering Education and Industrial Needs Garousi, Vahid ; Giray, Gorkem ; Tuzun, Eray ; Catal, Cagatay ; Felderer, Michael IEEE software, 2020-03, Vol.37 (2), p.68-77 [Periódico revisado por pares] Los Alamitos: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Visual Analytics in Deep Learning: An Interrogative Survey for the Next Frontiers Hohman, Fred ; Kahng, Minsuk ; Pienta, Robert ; Chau, Duen Horng IEEE transactions on visualization and computer graphics, 2019-08, Vol.25 (8), p.2674-2693 [Periódico revisado por pares] United States: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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