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Refinado por: Base de dados/Biblioteca: AIP - American Institute of Physics

Result Number	Material Type	Record Details and Options
1	$Direct sample positioning and alignment methodology for strain measurement by diffraction$ $Direct sample positioning and alignment methodology for strain measurement by diffraction$ Material Type: Artigo	Direct sample positioning and alignment methodology for strain measurement by diffraction Ratel, N. ; Hughes, D. J. ; King, A. ; Malard, B. ; Chen, Z. ; Busby, P. ; Webster, P. J. Review of scientific instruments, 2005-05, Vol.76 (5), p.055103-055103-5 [Periódico revisado por pares] United States: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo	Facility for combined in situ magnetron sputtering and soft x-ray magnetic circular dichroism Telling, N. D. ; van der Laan, G. ; Georgieva, M. T. ; Farley, N. R. S. Review of scientific instruments, 2006-07, Vol.77 (7) [Periódico revisado por pares] United States Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo	Simulation of surface evolution during ion bombardment Katardjiev, I. V. Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 1988-07, Vol.6 (4), p.2434-2442 [Periódico revisado por pares] Melville, NY: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por