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1	Material Type: magazinearticle		Influência do tipo de argila no processo de solidificação/estabilização de lodo têxtil Almeida, P. H. S. ; Franco, J. de M. ; Tavares, C. R. G. Cerâmica, 2015-03, Vol.61 (357), p.137-144 [Periódico revisado por pares] Associação Brasileira de Cerâmica Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: magazinearticle		Modeling Analysis of BTI-driven degradation of a Ring Oscillator Designed in a 28-nm CMOS Technology Sangani, D. ; Diaz-Fortuny, J. ; Bury, E. ; Franco, J. ; Kaczer, B. ; Gielen, G. IEEE transactions on device and materials reliability, 2023-09, Vol.23 (3), p.1-1 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: magazinearticle		A Defect-Centric Analysis of the Temperature Dependence of the Channel Hot Carrier Degradation in nMOSFETs Procel, L. M. ; Crupi, F. ; Trojman, L. ; Franco, J. ; Kaczer, B. IEEE transactions on device and materials reliability, 2016-03, Vol.16 (1), p.98-100 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: magazinearticle		Degradation mapping and impact of device dimension on IGZO TFTs BTI Rinaudo, P. ; Chasin, A. ; Franco, J. ; Wu, Z. ; Subhechha, S. ; Arutchelvan, G. ; Eneman, G. ; Ramana, B. Y. V. ; Rassoul, N. ; Delhougne, R. ; Kaczer, B. ; Wolf, I. De ; Kar, G.S. IEEE transactions on device and materials reliability, 2023-09, Vol.23 (3), p.1-1 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: magazinearticle		Impact of Dimensions of Memory Periphery FinFETs on Bias Temperature Instability Boubaaya, Mohamed ; O'Sullivan, B. J. ; Djezzar, Boualem ; Franco, J. ; Litta, E. D. ; Ritzenthaler, R. ; Dupuy, E. ; Machkaoutsan, Vladimir ; Fazan, Pierre ; Kim, C. ; Bennaceur-Doumaz, D. ; Hamida, A. Ferhat ; Spessot, A. ; Linten, D. ; Horiguchi, N. IEEE transactions on device and materials reliability, 2020-06, Vol.20 (2), p.269-277 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: magazinearticle		On the Impact of the Gate Work-Function Metal on the Charge Trapping Component of NBTI and PBTI Franco, J. ; Wu, Z. ; Rzepa, G. ; Ragnarsson, L.-A. ; Dekkers, H. ; Vandooren, A. ; Groeseneken, G. ; Horiguchi, N. ; Collaert, N. ; Linten, D. ; Grasser, T. ; Kaczer, B. IEEE transactions on device and materials reliability, 2019-06, Vol.19 (2), p.268-274 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: magazinearticle		Rheological and Tribological Characterization of a New Acylated Chitosan-Based Biodegradable Lubricating Grease: A Comparative Study with Traditional Lithium and Calcium Greases Sanchez, R ; Valencia, C ; Franco, J M Tribology & lubrication technology, 2015-05, Vol.71 (5), p.56-56 Park Ridge: Society of Tribologists and Lubrication Engineers Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: magazinearticle		Influence of Randomness During the Interpretation of Results From Single-Event Experiments on SRAMs Franco, Francisco J. ; Clemente, Juan Antonio ; Mecha, Hortensia ; Velazco, Raoul IEEE transactions on device and materials reliability, 2019-03, Vol.19 (1), p.104-111 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: magazinearticle		A High-Performance Dual-Mode Feed Horn for Parabolic Reflectors with a Stepped-Septum Polarizer in a Circular Waveguide [Antenna Designer's Notebook] Franco, Marc J. IEEE antennas & propagation magazine, 2011-06, Vol.53 (3), p.142-146 New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: magazinearticle		Is the audit report becoming too sophisticated? Franco, Joseph J Journal of Accountancy (pre-1986), 1965-02, Vol.119 (2), p.29 New York: American Institute of Certified Public Accountants Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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