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1
Analysis of the leakage drain current carriers in SOI MOSFETs operating at high-temperatures
Analysis of the leakage drain current carriers in SOI MOSFETs operating at high-temperatures
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Analysis of the leakage drain current carriers in SOI MOSFETs operating at high-temperatures

Marcello Bellodi João Antonio Martino 1959-

São Paulo EPUSP 2002

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2
O efeito do crescimento de grãos na absorção óptica de filmes de KCl:'Tl IND.+'
O efeito do crescimento de grãos na absorção óptica de filmes de KCl:'Tl IND.+'
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

O efeito do crescimento de grãos na absorção óptica de filmes de KCl:'Tl IND.+'

Elisabete A. A. Rubo Máximo Siu Li; Congresso Brasileiro de Aplicações de Vácuo na Indústria e na Ciência - CBrAVIC (24. 2003 Bauru)

Programa oficial e resumo de trabalhos Bauru : Universidade Estadual Paulista, Faculdade de Ciências, 2003

Bauru Universidade Estadual Paulista, Faculdade de Ciências 2003

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD009091 ) e outros locais(Acessar)

3
Structural and electrical properties of PZT thin films after annealing under oxygen pressure
Structural and electrical properties of PZT thin films after annealing under oxygen pressure
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Structural and electrical properties of PZT thin films after annealing under oxygen pressure

M T Escote F M Pontes; E R Leite; E Longo; R. F Jardim (Renato Figueiredo); Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada 26 (2003 Caxambu)

Resumos São Paulo : SBF, 2003

São Paulo SBF 2003

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4
Resistividade elétrica de filmes finos metálicos nanoestruturados
Resistividade elétrica de filmes finos metálicos nanoestruturados
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Resistividade elétrica de filmes finos metálicos nanoestruturados

Reginaldo de Jesus Costa Farias Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori; Alfredo Rodrigues Vaz; Deilton Reis Martins; Leônidas Lopes de Melo; Mauro Sérgio Dorsa Cattani; Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada 26 (2003 Caxambu)

Resumos São Paulo : SBF, 2003

São Paulo SBF 2003

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5
Estudo do efeito das implantações de íons de He, Ne e Ar em filmes finos de NiFe/FeMn
Estudo do efeito das implantações de íons de He, Ne e Ar em filmes finos de NiFe/FeMn
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Estudo do efeito das implantações de íons de He, Ne e Ar em filmes finos de NiFe/FeMn

Angela D Barra-Barrera A. D Santos (Antonio Domingues); Livio Amaral; Luiz Sampaio; Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada 26 (2003 Caxambu)

Resumos São Paulo : SBF, 2003

São Paulo SBF 2003

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6
Programa SILICIO agrupando e correlacionando dados sobre deposição e caracterização de filmes finos de silício hidrogenado
Programa SILICIO agrupando e correlacionando dados sobre deposição e caracterização de filmes finos de silício hidrogenado
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Programa SILICIO agrupando e correlacionando dados sobre deposição e caracterização de filmes finos de silício hidrogenado

John Paul Hempel Lima Ely Antonio Tadeu Dirani; Alexandre Mantovani Nardes; Fernando Josepetti Fonseca 1959-; Adnei Melges de Andrade 1943-; Simpósio Internacional de Iniciação Científica da USP (10. 2002 São Carlos); Congresso de Iniciação Científica e Tecnológica em Engenharia (18. 2002 São Carlos)

SIICUSP;CICTE: resumos

São Paulo USP 2002

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7
Análise de superfície de filmes finos de cobre
Análise de superfície de filmes finos de cobre
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Análise de superfície de filmes finos de cobre

Alexsander Tressino de Carvalho Sebastião Gomes dos Santos Filho 1962-; Maria Lucia Pereira da Silva 1957-; Simpósio Internacional de Iniciação Científica da USP (10. 2002 São Carlos); Congresso de Iniciação Científica e Tecnológica em Engenharia (18. 2002 São Carlos)

SIICUSP;CICTE: resumos

São Paulo USP 2002

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8
Surface roughness as a function of the DLC thickness coating
Surface roughness as a function of the DLC thickness coating
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Surface roughness as a function of the DLC thickness coating

Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori Deilton Reis Martins; Mauro Sérgio Dorsa Cattani; Nanotechnology Conference and Trade Show 2005 Anaheim, California

Program

Cambridge NITS 2005

Acesso online

9
Espectros de absorção óptica e microscopia em ângulo de Brewster de fimes Langmuir de um azopolímero metacrílico
Espectros de absorção óptica e microscopia em ângulo de Brewster de fimes Langmuir de um azopolímero metacrílico
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Espectros de absorção óptica e microscopia em ângulo de Brewster de fimes Langmuir de um azopolímero metacrílico

Felippe José Pavinatto D. S Santos Junior; P. H. D Ferreira; Débora Terezia Balogh; Osvaldo Novais de Oliveira Junior; Cleber Renato Mendonça; Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada (26. 2003 Caxambu)

Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 2003

São Paulo Sociedade Brasileira de Física 2003

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD008929 ) e outros locais(Acessar)

10
Amorphous hydrogenated carbon films deposited by PECVD influence of the substrate temperature on film growth and microstruture
Amorphous hydrogenated carbon films deposited by PECVD influence of the substrate temperature on film growth and microstruture
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Amorphous hydrogenated carbon films deposited by PECVD influence of the substrate temperature on film growth and microstruture

G Capote R Prioli; P. M Jardim; Antonio Ricardo Zanatta; L. G Jacobsohn; F. L Freire Junior; International Conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors : Science and Technology - ICAMS (20. 2003 Campos do Jordão)

Abstract Book and Final Program Campinas, 2003

Campinas 2003

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD009411 ) e outros locais(Acessar)

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