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Refinado por: Nome da Publicação: International Journal Of Nanoscience remover
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ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF PLANAR SILICON NANOWIRE FIELD-EFFECT TRANSISTORS
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ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF PLANAR SILICON NANOWIRE FIELD-EFFECT TRANSISTORS

ROSAZ, G. ; SALEM, B. ; PAUC, N. ; GENTILE, P. ; POTIÉ, A. ; SOLANKI, A. ; BASSANI, F. ; BARON, T. ; CAGNON, L.

International journal of nanoscience, 2012-08, Vol.11 (4), p.1240011-1240015 [Periódico revisado por pares]

World Scientific Publishing Company

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