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ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF PLANAR SILICON NANOWIRE FIELD-EFFECT TRANSISTORS
ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF PLANAR SILICON NANOWIRE FIELD-EFFECT TRANSISTORS
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ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF PLANAR SILICON NANOWIRE FIELD-EFFECT TRANSISTORS

ROSAZ, G ; SALEM, B ; PAUC, N ; GENTILE, P ; POTIÉ, A ; SOLANKI, A ; BASSANI, F ; BARON, T ; CAGNON, L

International journal of nanoscience, 2012-08, Vol.11 (4), p.1240011-1240015 [Periódico revisado por pares]

World Scientific Publishing Company

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Adhesion Limits and Design Criteria for Nanorelays
Adhesion Limits and Design Criteria for Nanorelays
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Adhesion Limits and Design Criteria for Nanorelays

Lin, Kevin L. ; Cross, Graham L. W. ; Gleeson, Peter ; de Silva, Johann P. ; Levander, Alejandro ; Munoz, Jorge A. ; Pawashe, Chytra ; Potie, Alexis ; Theofanis, Patrick ; Boland, John J. ; Kuhn, Kelin J.

IEEE transactions on electron devices, 2016-01, Vol.63 (1), p.465-470 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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