skip to main content
Idioma:
Mostrar Somente
Refinado por: autor: Hönnicke, M remover autor: Morelhão, S remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique
Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique

Marcelo G. Hönnicke Sergio Luiz Morelhão

São Paulo 2020

Acesso online

2
Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique
Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique

Marcelo G. Hönnicke Sérgio L Morelhão

Radiation Physics and Chemistry Amsterdam: Elsevier, 2020 v. 167, fevereiro, 2020, número do artigo: 108273

Amsterdam 2020

Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar)

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Mostrar Somente

  1. Recursos Online (1)

Refinar Meus Resultados

Tipo de Recurso 

  1. Produções Técnicas  (1)
  2. Artigos  (1)
  3. Mais opções open sub menu

Novas Pesquisas Sugeridas

Ignorar minha busca e procurar por tudo

Deste Autor:

  1. Hönnicke, M
  2. Morelhão, S

Neste Assunto:

  1. Radiação Sincrotron
  2. Materiais Nanoestruturados
  3. Nanopartículas
  4. Cristalografia De Raios X

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.