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1
Proceedings of the XVIII Brazilian Logic Conference. [Preface]
Proceedings of the XVIII Brazilian Logic Conference. [Preface]
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Proceedings of the XVIII Brazilian Logic Conference. [Preface]

Jonas R. Becker Arenhart Hugo Luiz Mariano; Wagner C Sanz; Daniel Ventura; Brazilian Logic Conference - EBL (18. (2017 Pirenópolis, Goiás)

South American Journal of Logic Campinas v. 4, n. 2, p. 253–256, 2018

Campinas 2018

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

2
Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films
Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films

Ivan Emílio Chambouleyron S. D Ventura; Ernesto Julian Goldberg Birgin; José Mário Martínez

Journal of Applied Physics Melville, NY v. 92, n. 6, p. 3093-3102, 2002

Melville, NY 2002

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1297047 )(Acessar)

3
Estimation of optical parameters of very thin films
Estimation of optical parameters of very thin films
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Estimation of optical parameters of very thin films

Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Emílio Chambouleyron; José Mário Martínez; S. D Ventura

Applied Numerical Mathematics Amsterdam v. 47, n. 2, p. 109-119, 2003

Amsterdam 2003

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1345542 )(Acessar)

4
Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data
Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data

S. D. Ventura Ernesto Julian Goldberg Birgin; Jesus Manuel Martinez; Ivan Emílio Chambouleyron

Journal of Applied Physics Melville v. 97, n. 4, art. 043512, 2005

Melville 2005

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1436903 )(Acessar)

5
Estimation of the thickness and the optical parameters of several stacked thin films using optimization
Estimation of the thickness and the optical parameters of several stacked thin films using optimization
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Estimation of the thickness and the optical parameters of several stacked thin films using optimization

Ricardo Luiz de Andrade Abrantes Ernesto Julian Goldberg Birgin; Ivan Chambouleyron; José Mário Martínez; Sergio D Ventura

Applied Optics Washington v. 47, n. 28, p. 5208-5220, 2008

Washington 2008

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1722632 )(Acessar)

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Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films
Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films

Ivan Emílio Chambouleyron S. D Ventura; Ernesto Julian Goldberg Birgin; José Mário Martínez

Journal of Applied Physics Melville, NY v. 92, n. 6, p. 3093-3102, 2002

Melville, NY 2002

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1297047 )(Acessar)

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Estimation of optical parameters of very thin films
Estimation of optical parameters of very thin films
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Estimation of optical parameters of very thin films

Ernesto Julian Goldberg Birgin Ivan Emílio Chambouleyron; José Mário Martínez; S. D Ventura

Applied Numerical Mathematics Amsterdam v. 47, n. 2, p. 109-119, 2003

Amsterdam 2003

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1345542 )(Acessar)

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Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data
Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data

S. D. Ventura Ernesto Julian Goldberg Birgin; Jesus Manuel Martinez; Ivan Emílio Chambouleyron

Journal of Applied Physics Melville v. 97, n. 4, art. 043512, 2005

Melville 2005

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1436903 )(Acessar)

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Estimation of the thickness and the optical parameters of several stacked thin films using optimization
Estimation of the thickness and the optical parameters of several stacked thin films using optimization
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Estimation of the thickness and the optical parameters of several stacked thin films using optimization

Ricardo Luiz de Andrade Abrantes Ernesto Julian Goldberg Birgin; Ivan Chambouleyron; José Mário Martínez; Sergio D Ventura

Applied Optics Washington v. 47, n. 28, p. 5208-5220, 2008

Washington 2008

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1722632 )(Acessar)

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Relatório de análise estatística sobre o projeto "avaliação dos efeitos combinados de estressores ambientais e organizacionais dos trabalhadores em turnos de setor gráfico"
Relatório de análise estatística sobre o projeto "avaliação dos efeitos combinados de estressores ambientais e organizacionais dos trabalhadores em turnos de setor gráfico"
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Relatório de análise estatística sobre o projeto "avaliação dos efeitos combinados de estressores ambientais e organizacionais dos trabalhadores em turnos de setor gráfico"

Clelia Maria de Castro Toloi Denise Aparecida Botter; Alexandre Abolin Catelan; Gilberto Araújo Ventura

São Paulo IME-USP 1995

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Deste Autor:

  1. Ventura, S
  2. Chambouleyron, I
  3. Birgin, E
  4. Martínez, J
  5. Abrantes, R

Neste Assunto:

  1. Otimização Combinatória
  2. Algoritmos
  3. Dielétricos
  4. Semicondutores
  5. Física

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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