Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Ionizing radiation effects in a rectifier circuitFelipe Barros Nilberto Heder Medina; Marcilei A. Guazzelli da Silveira; Alexis Cristiano Vilas Bôas; Brazilian Meeting on Nuclear Physics (XLI. 2018 São Sebastião)Resumos Maresias, São Sebastião, SP, 2018São Paulo 2018Acesso online |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Ionizing radiation dose due to the use of agricultural fertilizersNancy Kuniko Umisedo Emico Okuno; Sérgio Colacioppo; N. H Medina (Nilberto Heder); Francisco Yukio Hiodo; International Symposium on the Natural Radiation Environment (NRE VIII) 2007 Rio de Janeiro, 8 thAIP Conference Proceedings v. 1034, p. 380-383, 2008New York The Institute 2008Acesso online |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Ionizing radiation effects on electronic devicesNilberto Heder Medina Encontro de Física 2016 Natal, RN; Workshop on Nuclear Physics in Brazil 2016 Natal, RN, Brasil) (39Symposia I - Resumo São Paulo : SBF, 2016São Paulo SBF 2016Acesso online |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Ionizing radiation effects in a rectifier circuitAlexis Cristiano Vilas Bôas Marcilei Aparecida Guazzelli da Silveira; Nilberto Heder Medina; Brazilian Meeting on Nuclear Physics (41th 2018 Maresias, São Sebastião, SP)Abstracts São Paulo: SBF, 2018São Paulo SBF 2018Acesso online |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effectsFelipe Barros Marcilei Aparecida Guazzelli da Silveira; Nilberto Heder Medina; Nemitala Added; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Brazilian Meeting on Nuclear Physics (41th 2018 Maresias, São Sebastião, SP)Abstracts São Paulo: SBF, 2018São Paulo SBF 2018Acesso online |
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Material Type: Artigo
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Ionizing radiation hardness tests of GaN HEMTs for harsh environmentsAlexis C. Vilas Bôas M.A.A. de Melo; R. B. B Santos; R Giacomini; Nilberto H Medina; L. E Seixas; S Finco; F. R Palomo; A Romero-Maestre; Marcilei A GuazzelliMicroelectronics Reliability Amsterdam: Elsevier, 2021 v. 116, janeiro de 2021, número do artigo: 114000Amsterdam 2021Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Effects of total dose of ionizing radiation on integrated circuitsMarcilei Aparecida Guazzelli da Silveira N Added; M D L Barbosa; N H Medina; Manfredo Harri Tabacniks; Karin Huscher Cirne; S Gimenez; R B B Santos; J A de Lima; L E Seixas Junior; W Melo; Encontro de Física (2011 Foz do Iguaçu)Resumo Foz do Iguaçu: SBF, 2011Foz do Iguaçu SBF 2011Acesso online |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Assessment of Ionizing Radiation Hardness of a GaN Field-Effect TransistorAlexis Cristiano Vilas Bôas M A A de Melo; R B B Santos; R C Giacomini; Nilberto Heder Medina; L E Seixas; F R Palomo; Marcilei Aparecida Guazzelli; Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro) (34th 2019 São Paulo, SP, Brasil)Piscataway, Nova Jersey, USA Institute of Electrical and Electronics Engineers 2020Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Ionizing Radiation Effects on a COTS LowCost RISC MicrocontrollerFelipe G H Leite Roberto B B Santos; Nilberto Heder Medina; Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Renato Camargo Giacomini; Nemitala Added; Fernando Aguirre; Eduardo Luiz Augusto Macchione; Fabian Vargas; Marcilei Aparecida Guazzelli da Silveira; IEEE Latin American Test Symposium (LATS) 2017 Bogota, Colombia) (18thIEEE Xplore Conference publications New York v. 2017, p. 1-5, 2017New York IEEE 2017Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) |
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Material Type: Artigo de Congresso
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Ionizing radiation effect mechanisms in electronic devices how and what to measureM. A. G. Silveira F Leite; N. E Araújo; Karin Huscher Cirne; M. A. A Melo; A Rallo; R. B. B Santos; F Vargas; Nemitala Added; Nilberto Heder Medina; Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil (XXXVIII 2015 Mangaratiba - RJ)SBF São Paulo: Sociedade Brasileira de Física(2015)São Paulo 2015Acesso online |