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1	Material Type: Artigo		Human Body-Related Disease Diagnosis Systems Using CMOS Image Sensors: A Systematic Review Sukhavasi, Suparshya Babu ; Sukhavasi, Susrutha Babu ; Elleithy, Khaled ; Abuzneid, Shakour ; Elleithy, Abdelrahman Sensors (Basel, Switzerland), 2021-03, Vol.21 (6), p.2098 [Periódico revisado por pares] Switzerland: MDPI Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		A 216 × 216 Global-Shutter CMOS Image Sensor With Embedded Analog Memory and Automatic Exposure Control for Under-Display Optical Fingerprint Sensing Applications Yin, Ping-Hung ; Lu, Chih-Wen ; Wang, Jia-Shyang ; Chien, Yuan-Chang ; Chou, Cheng-Te ; Su, Guo-Dung John ; Chen, Poki IEEE transactions on circuits and systems. I, Regular papers, 2023-03, Vol.70 (3), p.1189-1201 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	$A 640 \times 640 Fully Dynamic CMOS Image Sensor for Always-On Operation$ $A 640 \times 640 Fully Dynamic CMOS Image Sensor for Always-On Operation$ Material Type: Artigo		A 640 \times 640 Fully Dynamic CMOS Image Sensor for Always-On Operation Park, Injun ; Jo, Woojin ; Park, Chanmin ; Park, Byungchoul ; Cheon, Jimin ; Chae, Youngcheol IEEE journal of solid-state circuits, 2020-04, Vol.55 (4), p.898-907 [Periódico revisado por pares] IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Fixed Pattern Noise and Temporal Noise Degradation Induced by Radiation Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors Wang, Zujun ; Xue, Yuanyuan ; Chen, Wei ; He, Baoping ; Yao, Zhibin ; Ma, Wuying ; Sheng, Jiangkun IEEE transactions on nuclear science, 2018-06, Vol.65 (6), p.1264-1270 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Livro		Photon-Counting Image Sensors Stoppa, David ; Teranishi, Nobukazu ; Fossum, Eric ; Theuwissen, Albert MDPI 2017 Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		A Single Slope ADC With Row-Wise Noise Reduction Technique for CMOS Image Sensor Nie, Kaiming ; Zha, Wanbin ; Shi, Xiaolin ; Li, Jiawen ; Xu, Jiangtao ; Ma, Jianguo IEEE transactions on circuits and systems. I, Regular papers, 2020-09, Vol.67 (9), p.2873-2882 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	$A VGA Indirect Time-of-Flight CMOS Image Sensor With 4-Tap 7- \mu m Global-Shutter Pixel and Fixed-Pattern Phase Noise Self-Compensation$ $A VGA Indirect Time-of-Flight CMOS Image Sensor With 4-Tap 7- \mu m Global-Shutter Pixel and Fixed-Pattern Phase Noise Self-Compensation$ Material Type: Artigo		A VGA Indirect Time-of-Flight CMOS Image Sensor With 4-Tap 7- \mu m Global-Shutter Pixel and Fixed-Pattern Phase Noise Self-Compensation Keel, Min-Sun ; Jin, Young-Gu ; Kim, Youngchan ; Kim, Daeyun ; Kim, Yeomyung ; Bae, Myunghan ; Chung, Bumsik ; Son, Sooho ; Kim, Hogyun ; An, Taemin ; Choi, Sung-Ho ; Jung, Taesub ; Kwon, Yonghun ; Seo, Sungyoung ; Kim, Sae-Young ; Bae, Kwanghyuk ; Shin, Seung-Chul ; Ki, Myoungoh ; Yoo, Seoungjae ; Moon, Chang-Rok ; Ryu, Hyunsurk ; Kim, Joonseok IEEE journal of solid-state circuits, 2020-04, Vol.55 (4), p.889-897 [Periódico revisado por pares] IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		HDR CMOS Image Sensors for Automotive Applications Takayanagi, Isao ; Kuroda, Rihito IEEE transactions on electron devices, 2022-06, Vol.69 (6), p.2815-2823 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Time Domain Noise Analysis of Oversampled CMOS Image Sensors Suess, Andreas ; Wilhelmsen, Mathias ; Zuo, Liang ; Fowler, Boyd IEEE transactions on electron devices, 2022-06, Vol.69 (6), p.2973-2978 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Case Study of a Global Shutter CIS-Part 2: Parasitic Light Sensitivity Theuwissen, Albert IEEE transactions on electron devices, 2022-06, Vol.69 (6), p.2938-2942 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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