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Semi-Blind Joint Channel and Symbol Estimation for IRS-Assisted MIMO Systems
Semi-Blind Joint Channel and Symbol Estimation for IRS-Assisted MIMO Systems
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Semi-Blind Joint Channel and Symbol Estimation for IRS-Assisted MIMO Systems

Araujo, Gilderlan T. de ; Almeida, Andre L. F. de ; Boyer, Remy ; Fodor, Gabor

IEEE transactions on signal processing, 2023-01, Vol.71, p.1-16 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Optimal Rotated M-PSK Signaling for Multi-User Receive Diversity System Over Correlated Rician Fading Channels
Optimal Rotated M-PSK Signaling for Multi-User Receive Diversity System Over Correlated Rician Fading Channels
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Optimal Rotated M-PSK Signaling for Multi-User Receive Diversity System Over Correlated Rician Fading Channels

Reddy, Badri Ramanjaneya ; Dash, Soumya P. ; Ghose, Debasish

IEEE communications letters, 2023-03, Vol.27 (3), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Channel Estimation for Reconfigurable Intelligent Surface Aided Multi-User mmWave MIMO Systems
Channel Estimation for Reconfigurable Intelligent Surface Aided Multi-User mmWave MIMO Systems
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Channel Estimation for Reconfigurable Intelligent Surface Aided Multi-User mmWave MIMO Systems

Chen, Jie ; Liang, Ying-Chang ; Cheng, Hei Victor ; Yu, Wei

IEEE transactions on wireless communications, 2023-10, Vol.22 (10), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Sampling and Reconstruction of Operators
Sampling and Reconstruction of Operators
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Sampling and Reconstruction of Operators

Pfander, Gotz E. ; Walnut, David F.

IEEE transactions on information theory, 2016-01, Vol.62 (1), p.435-458 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Energy-Efficient Symbol-Level Precoding in Multiuser MISO Based on Relaxed Detection Region
Energy-Efficient Symbol-Level Precoding in Multiuser MISO Based on Relaxed Detection Region
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Energy-Efficient Symbol-Level Precoding in Multiuser MISO Based on Relaxed Detection Region

Alodeh, Maha ; Chatzinotas, Symeon ; Ottersten, Bjorn

IEEE transactions on wireless communications, 2016-05, Vol.15 (5), p.3755-3767 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Codes in the Space of Multisets-Coding for Permutation Channels With Impairments
Codes in the Space of Multisets-Coding for Permutation Channels With Impairments
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Codes in the Space of Multisets-Coding for Permutation Channels With Impairments

Kovacevic, Mladen ; Tan, Vincent Y. F.

IEEE transactions on information theory, 2018-07, Vol.64 (7), p.5156-5169 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Low CP Overhead Waveform Design for Multi-Path Channels with Timing Synchronization Error
Low CP Overhead Waveform Design for Multi-Path Channels with Timing Synchronization Error
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Low CP Overhead Waveform Design for Multi-Path Channels with Timing Synchronization Error

Chen, Jing ; Wang, Baobing ; Guo, Jianzhong ; Shan, Xin ; Kong, Dejin

Sensors (Basel, Switzerland), 2022-08, Vol.22 (15), p.5772 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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Pilot Contamination Elimination for Large-Scale Multiple-Antenna Aided OFDM Systems
Pilot Contamination Elimination for Large-Scale Multiple-Antenna Aided OFDM Systems
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Pilot Contamination Elimination for Large-Scale Multiple-Antenna Aided OFDM Systems

Zhang, Jiankang ; Zhang, Bo ; Chen, Sheng ; Mu, Xiaomin ; El-Hajjar, Mohammed ; Hanzo, Lajos

IEEE journal of selected topics in signal processing, 2014-10, Vol.8 (5), p.759-772 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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A Construction of New MDS Symbol-Pair Codes
A Construction of New MDS Symbol-Pair Codes
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A Construction of New MDS Symbol-Pair Codes

Kai, Xiaoshan ; Zhu, Shixin ; Li, Ping

IEEE transactions on information theory, 2015-11, Vol.61 (11), p.5828-5834 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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A New Reconfigurable Intelligent-Surface-Assisted LoRa System
A New Reconfigurable Intelligent-Surface-Assisted LoRa System
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A New Reconfigurable Intelligent-Surface-Assisted LoRa System

Zhang, Xiaoyu ; Xu, Wenyang ; Cai, Guofa ; Song, Yang ; Chen, Guanrong

IEEE transactions on vehicular technology, 2022-08, Vol.71 (8), p.9055-9060 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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