Cropper, Mark ; Pottinger, S ; Niemi, S ; Azzollini, R ; Denniston, J ; Szafraniec, M ; Awan, S ; Mellier, Y ; Berthe, M ; Martignac, J ; Cara, C ; Di Giorgio, A.-M ; Sciortino, A ; Bozzo, E ; Genolet, L ; Cole, R ; Philippon, A ; Hailey, M ; Hunt, T ; Swindells, I ; Holland, A ; Gow, J ; Murray, N ; Hall, D ; Skottfelt, J ; Amiaux, J ; Laureijs, R ; Racca, G ; Salvignol, J.-C ; Short, A ; Lorenzo Alvarez, J ; Kitching, T ; Hoekstra, H ; Massey, R ; Israel, H Siegler, Nicholas ; Tong, Edward C ; MacEwen, Howard A ; Lystrup, Makenzie ; Batalha, Natalie ; Fazio, Giovanni G
Cruz, N. C. ; Salhi, S. ; Redondo, J. L. ; Álvarez, J. D. ; Berenguel, M. ; Ortigosa, P. M. Sergeyev, Yaroslav D. ; Emmerich, Michael T. M. ; Deutz, André H. ; Hille, Sander C.
AIP Conference Proceedings, 2019, Vol.2070 (1)
[Periódico revisado por pares]
Cropper, Mark ; Pottinger, S ; Niemi, S.-M ; Denniston, J ; Cole, R ; Szafraniec, M ; Mellier, Y ; Berthé, M ; Martignac, J ; Cara, C ; di Giorgio, A. M ; Sciortino, A ; Paltani, S ; Genolet, L ; Fourmand, J.-J ; Charra, M ; Guttridge, P ; Winter, B ; Endicott, J ; Holland, A ; Gow, J ; Murray, N ; Hall, D ; Amiaux, J ; Laureijs, R ; Racca, G ; Salvignol, J.-C ; Short, A ; Lorenzo Alvarez, J ; Kitching, T ; Hoekstra, H ; Massey, R MacEwen, Howard A ; Fazio, Giovanni G ; Oschmann, Jacobus M ; Clampin, Mark
Methodology for Active Junction Profile Extraction in thin film FD-SOI Enabling performance driver identification in 500°C devices for 3D sequential integration
Frutuoso, T. Mota ; Garros, X. ; Batude, P. ; Brunet, L. ; Lacord, J. ; Sklenard, B. ; Lapras, V. ; Fenouillet-Beranger, C. ; Ribotta, M. ; Magalhaes-Lucas, A. ; Kanyandekwe, J. ; Kies, R. ; Romano, G. ; Catapano, E. ; Casse, M. ; Lugo-Alvarez, J. ; Ferrari, P. ; Gaillard, F.
2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022, p.332-333
CERN’s Linac4 H− sources: Status and operational results
Lettry, J. ; Aguglia, D. ; Andersson, P. ; Bertolo, S. ; Butterworth, A. ; Coutron, Y. ; Dallocchio, A. ; David, N. ; Chaudet, E. ; Fink, D. ; Gil-Flores, J. ; Garlasche, M. ; Grudiev, A. ; Guida, R. ; Hansen, J. ; Haase, M. ; Jones, A. ; Koszar, I. ; Machado, C. ; Mastrostefano, C.
AIP Conference Proceedings, 2015, Vol.1655 (1)
[Periódico revisado por pares]