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1
Thermal Interface Materials
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Thermal Interface Materials

Chung, D. D. L.

Journal of electronic materials, 2020, Vol.49 (1), p.268-270 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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2
Oxide-Free Copper Pastes for the Attachment of Large-Area Power Devices
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Oxide-Free Copper Pastes for the Attachment of Large-Area Power Devices

Del Carro, Luca ; Zinn, Alfred A. ; Ruch, Patrick ; Bouville, Florian ; Studart, André R. ; Brunschwiler, Thomas

Journal of electronic materials, 2019-10, Vol.48 (10), p.6823-6834 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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3
Static Performance of 20 A, 1200 V 4H-SiC Power MOSFETs at Temperatures of −187°C to 300°C
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Static Performance of 20 A, 1200 V 4H-SiC Power MOSFETs at Temperatures of −187°C to 300°C

Cheng, Lin ; Agarwal, Anant K. ; Dhar, Sarit ; Ryu, Sei-Hyung ; Palmour, John W.

Journal of electronic materials, 2012-05, Vol.41 (5), p.910-914 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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4
Temperature-Stable Dielectric Properties from − 56°C to 248°C in (1 − x)BaTiO3-xBi(Mg0.5Sn0.5)O3 System
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Temperature-Stable Dielectric Properties from − 56°C to 248°C in (1 − x)BaTiO3-xBi(Mg0.5Sn0.5)O3 System

Li, Xiaoxia ; Chen, Xiuli ; Liu, Xiaobin ; Yan, Xiao ; Zhou, Huanfu ; Liu, Gaofeng ; Li, Xu ; Sun, Jie

Journal of electronic materials, 2019-01, Vol.48 (1), p.296-303 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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5
An EBSD Study of Fatigue Crack Propagation in Bonded Aluminum Wires Cycled from 55°C to 85°C
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An EBSD Study of Fatigue Crack Propagation in Bonded Aluminum Wires Cycled from 55°C to 85°C

Halouani, Ayda ; Khatir, Zoubir ; Shqair, Mustafa ; Ibrahim, Ali ; Pichon, Pierre-Yves

Journal of electronic materials, 2022-12, Vol.51 (12), p.7353-7365 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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6
Synthesis of Yolk–Shell-Structured Si@C Nanocomposite Anode Material for Lithium-Ion Battery
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Synthesis of Yolk–Shell-Structured Si@C Nanocomposite Anode Material for Lithium-Ion Battery

Xiao, Zhongliang ; Xia, Ni ; Song, Liubin ; Li, Lingjun ; Cao, Zhong ; Zhu, Huali

Journal of electronic materials, 2018-10, Vol.47 (10), p.6311-6318 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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7
Phase Equilibria of the Sn–Ni–V System: The 980°C Isothermal Section and the Sn-Rich Corner at 600°C and 300°C
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Phase Equilibria of the Sn–Ni–V System: The 980°C Isothermal Section and the Sn-Rich Corner at 600°C and 300°C

Wu, Changjun ; Su, Xuping ; Peng, Haoping ; Liu, Ya ; Tu, Hao ; Wang, Jianhua

Journal of electronic materials, 2015-10, Vol.44 (10), p.3904-3913 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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8
MOF-Derived Octahedral-Shaped Fe3O4@C Composites for Lithium Storage
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MOF-Derived Octahedral-Shaped Fe3O4@C Composites for Lithium Storage

Li, Kai ; Qin, Renchi ; Xiong, YiQuan ; Ding, Ling ; Wen, JianWu ; Zeng, Min

Journal of electronic materials, 2023-05, Vol.52 (5), p.3311-3320 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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9
Fe3O4 Contribution to Core–Shell Structured Si@C Nanospheres as High-Performance Anodes for Lithium-Ion Batteries
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Fe3O4 Contribution to Core–Shell Structured Si@C Nanospheres as High-Performance Anodes for Lithium-Ion Batteries

Zheng, Yuxuan ; Ma, Junkai ; He, Xinping ; Gan, Yongping ; Zhang, Jun ; Xia, Yang ; Zhang, Wenkui ; Huang, Hui

Journal of electronic materials, 2023-03, Vol.52 (3), p.1730-1739 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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10
Optical Characterization of Gallium Oxide α and β Polymorph Thin-Films Grown on c-Plane Sapphire
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Optical Characterization of Gallium Oxide α and β Polymorph Thin-Films Grown on c-Plane Sapphire

Ghadbeigi, Leila ; Cooke, Jacqueline ; Dang, Giang T. ; Kawaharamura, Toshiyuki ; Yasuoka, Tatsuya ; Sun, Rujun ; Ranga, Praneeth ; Krishnamoorthy, Sriram ; Scarpulla, Michael A. ; Sensale-Rodriguez, Berardi

Journal of electronic materials, 2021-06, Vol.50 (6), p.2990-2998 [Periódico revisado por pares]

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