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Material Type: Artigo
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The intrinsic resolution limit in the atomic force microscope: implications for heights of nano-scale featuresSantos, Sergio ; Barcons, Victor ; Christenson, Hugo K ; Font, Josep ; Thomson, Neil H Gruverman, AlexeiPloS one, 2011-08, Vol.6 (8), p.e23821 [Periódico revisado por pares]United States: Public Library of ScienceTexto completo disponível |
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