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A simple approach to characterizing block copolymer assemblies: graphene oxide supports for high contrast multi-technique imaging
A simple approach to characterizing block copolymer assemblies: graphene oxide supports for high contrast multi-technique imaging
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A simple approach to characterizing block copolymer assemblies: graphene oxide supports for high contrast multi-technique imaging

Patterson, Joseph P ; Sanchez, Ana M ; Petzetakis, Nikos ; Smart, Thomas P ; Epps, 3rd, Thomas H ; Portman, Ian ; Wilson, Neil R ; O'Reilly, Rachel K

Soft matter, 2012-03, Vol.8 (12), p.3322-3328 [Periódico revisado por pares]

England

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Structural changes in block copolymer micelles induced by cosolvent mixtures
Structural changes in block copolymer micelles induced by cosolvent mixtures
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Structural changes in block copolymer micelles induced by cosolvent mixtures

Kelley, Elizabeth G ; Smart, Thomas P ; Jackson, Andrew J ; Sullivan, Millicent O ; Epps, 3rd, Thomas H

Soft matter, 2011-01, Vol.7 (15), p.7094-7102 [Periódico revisado por pares]

England

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3
Characterisation of secondary electron multiplier nonlinearity using MC-ICPMS
Characterisation of secondary electron multiplier nonlinearity using MC-ICPMS
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Characterisation of secondary electron multiplier nonlinearity using MC-ICPMS

Hoffmann, D.L. ; Richards, D.A. ; Elliott, T.R. ; Smart, P.L. ; Coath, C.D. ; Hawkesworth, C.J.

International journal of mass spectrometry, 2005-07, Vol.244 (2), p.97-108 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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4
Neutron scattering investigations of guest molecular dynamics in alpha , omega -dibromoalkane-urea inclusion compounds
Neutron scattering investigations of guest molecular dynamics in alpha , omega -dibromoalkane-urea inclusion compounds
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Neutron scattering investigations of guest molecular dynamics in alpha , omega -dibromoalkane-urea inclusion compounds

Guillaume, F ; Smart, S P ; Harris, K D M ; Dianoux, A -J

Journal of physics. Condensed matter, 1994-03, Vol.6 (11), p.2169-2184 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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5
Polymersomes hydrophilic brush scaling relations
Polymersomes hydrophilic brush scaling relations
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Polymersomes hydrophilic brush scaling relations

Smart, Thomas P. ; Mykhaylyk, Oleksandr O. ; Ryan, Anthony J. ; Battaglia, Giuseppe

Soft matter, 2009, Vol.5 (19), p.3607 [Periódico revisado por pares]

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6
Micro-extraction fields to improve electron beam test measurements
Micro-extraction fields to improve electron beam test measurements
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Micro-extraction fields to improve electron beam test measurements

Khursheed, A. ; Dinnis, A.R. ; Smart, P.D.

Microelectronic engineering, 1991, Vol.14 (3), p.197-205 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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7
High-resolution dry etching of zinc telluride: characterization of etched surfaces by X-ray photoelectron spectroscopy, photoluminescence and Raman scattering
High-resolution dry etching of zinc telluride: characterization of etched surfaces by X-ray photoelectron spectroscopy, photoluminescence and Raman scattering
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High-resolution dry etching of zinc telluride: characterization of etched surfaces by X-ray photoelectron spectroscopy, photoluminescence and Raman scattering

Foad, M A ; Watt, M ; Smart, A P ; Torres, C M Sotomayro ; Wilkinson, C D W ; Kuhn, W ; Wagner, H P ; Bauer, S ; Leiderer, H ; Gebhardt, W

Semiconductor science and technology, 1991-09, Vol.6 (9A), p.A115-A122 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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8
Nanometer fabrication techniques for wide-gap II-VI semiconductors and their optical characterization
Nanometer fabrication techniques for wide-gap II-VI semiconductors and their optical characterization
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Nanometer fabrication techniques for wide-gap II-VI semiconductors and their optical characterization

Torres, CM.Sotomayor ; Smart, A. P. ; Watt, M. ; Foad, M. A. ; Tsutsui, K. ; Wilkinson, C. D. W.

Journal of electronic materials, 1994-03, Vol.23 (3), p.289-298 [Periódico revisado por pares]

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9
Mass adjuster for pressure balance
Mass adjuster for pressure balance
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Mass adjuster for pressure balance

Smart, P. W.

Review of scientific instruments, 1982-01, Vol.53 (3), p.366-367, Article 366 [Periódico revisado por pares]

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10
The Triple Point of Xenon as a Possible Defining Point on an International Temperature Scale
The Triple Point of Xenon as a Possible Defining Point on an International Temperature Scale
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The Triple Point of Xenon as a Possible Defining Point on an International Temperature Scale

Kemp, R C ; Kemp, W R G ; Smart, P W

Metrologia, 1985-01, Vol.21 (2), p.43-48 [Periódico revisado por pares]

Heidelberg: IOP Publishing

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