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Uma abordagem nanotecnologica para o desenvolvimento de dispositivos de extração em fase solida baseados em silicio monocristalino para detecção por espectrometria de massas o herbochip para detecção do herbicida atrazina
Uma abordagem nanotecnologica para o desenvolvimento de dispositivos de extração em fase solida baseados em silicio monocristalino para detecção por espectrometria de massas o herbochip para detecção do herbicida atrazina
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Uma abordagem nanotecnologica para o desenvolvimento de dispositivos de extração em fase solida baseados em silicio monocristalino para detecção por espectrometria de massas o herbochip para detecção do herbicida atrazina

Ubirajara Pereira Rodrigues Filho Catherine H. de Villeneuve; Jean-Nöel Chazalviel; François Ozanam; Philippe Allongue; Jéremy Brison; Bastien Douhard; Jean-Jacques Pireaux; Laurent Hossiau

Nanotecnologia na Universidade de São Paulo: Trabalhos apresentados na II Feira e Congresso Internacional de Nanotecnologia - Nanotec 2006 São Paulo: USP, 2006

São Paulo USP 2006

Localização: IQSC - Inst. Química de São Carlos    (P9912 ) e outros locais(Acessar)

2
Time-of-flight secondary ion mass spectroscopy of organic monolayer on Si(111)
Time-of-flight secondary ion mass spectroscopy of organic monolayer on Si(111)
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Time-of-flight secondary ion mass spectroscopy of organic monolayer on Si(111)

Ubirajara Pereira Rodrigues Filho Catherine Henry-de-Villeneuve; Jean-Nöel Chazalviel; François Ozanam; Jéremy Brison; Bastien Douhard; Jean-Jacques Pireaux; Laurent Houssiau; Philippe Allongue; International Conference on Electronic Spectroscopy and Structure (10. 2006 Foz do Iguaçu)

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena Amsterdam v. 156/158, p. xx-civ, 2007

Amsterdam Elsevier Science 2007

Localização: IQSC - Inst. Química de São Carlos    (P10274 ) e outros locais(Acessar)

3
Time-of-flight secondary ion mass spectroscopy or organic monolayer on Si(111)
Time-of-flight secondary ion mass spectroscopy or organic monolayer on Si(111)
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Time-of-flight secondary ion mass spectroscopy or organic monolayer on Si(111)

Ubirajara Pereira Rodrigues Filho Catherine Henry de Villeneuve; Jean-Nöel Chazalviel; François Ozanam; Jéremy Brison; Bastien Douhard; Jean-Jacques Pireaux; Laurent Houssiau; Philippe Allongue; International Conference on Electronic Spectroscopy and Structure - ICESS 2006 Foz de Iguaçu) (10

Abstract book São Carlos : Suprema, 2006

São Carlos Suprema 2006

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

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Deste Autor:

  1. Rodrigues Filho, U
  2. Allongue, P
  3. Chazalviel, J
  4. Douhard, B
  5. Ozanam, F

Neste Assunto:

  1. Nanotecnologia
  2. Química
  3. Espectroscopia
  4. Espectrometria De Massas
  5. Matéria Condensada

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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