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Fundamental investigations on the spark plasma sintering/synthesis process. II. Modeling of current and temperature distributions
Fundamental investigations on the spark plasma sintering/synthesis process. II. Modeling of current and temperature distributions
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Fundamental investigations on the spark plasma sintering/synthesis process. II. Modeling of current and temperature distributions

ANSELMI-TAMBURINI, U ; GENNARI, S ; GARAY, J. E ; MUNIR, Z. A

Materials science & engineering. A, Structural materials : properties, microstructure and processing, 2005-03, Vol.394 (1-2), p.139-148 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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2
Porous Ni–Ti ignition and combustion synthesis
Porous Ni–Ti ignition and combustion synthesis
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Porous Ni–Ti ignition and combustion synthesis

Zanotti, C. ; Giuliani, P. ; Terrosu, A. ; Gennari, S. ; Maglia, F.

Intermetallics, 2007-03, Vol.15 (3), p.404-412 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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The GIANO-TNG spectrometer
The GIANO-TNG spectrometer
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The GIANO-TNG spectrometer

Oliva, E ; Origlia, L ; Baffa, C ; Biliotti, C ; Bruno, P ; D'Amato, F ; Del Vecchio, C ; Falcini, G ; Gennari, S ; Ghinassi, F ; Giani, E ; Gonzalez, M ; Leone, F ; Lolli, M ; Lodi, M ; Maiolino, R ; Mannucci, F ; Marcucci, G ; Mochi, I ; Montegriffo, P ; Rossetti, E ; Scuderi, S ; Sozzi, M

SPIE 2006

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4
Energetics of Aluminum Vacancies and Incorporation of Foreign Trivalent Ions in γ-Al2O3: An Atomistic Simulation Study
Energetics of Aluminum Vacancies and Incorporation of Foreign Trivalent Ions in γ-Al2O3: An Atomistic Simulation Study
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Energetics of Aluminum Vacancies and Incorporation of Foreign Trivalent Ions in γ-Al2O3: An Atomistic Simulation Study

Maglia, Filippo ; Gennari, Silvia ; Buscaglia, Vincenzo

Journal of the American Ceramic Society, 2008-01, Vol.91 (1), p.283-290 [Periódico revisado por pares]

Malden, USA: Blackwell Publishing Inc

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5
The spectrometer optics of GIANO-TNG
The spectrometer optics of GIANO-TNG
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The spectrometer optics of GIANO-TNG

Gennari, S ; Mochi, I ; Donati, S. L ; Oliva, E ; Origlia, L ; Sandri, P

SPIE 2006

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6
The preslit system of GIANO-TNG
The preslit system of GIANO-TNG
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The preslit system of GIANO-TNG

Bruno, P ; Leone, F ; Oliva, E ; Gennari, S ; Mochi, I ; Origlia, L

SPIE 2006

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Investigation by synchrotron radiation X-ray topography of lattice tilt formation in partially released InGaAs/GaAs compositionally graded layers
Investigation by synchrotron radiation X-ray topography of lattice tilt formation in partially released InGaAs/GaAs compositionally graded layers
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Investigation by synchrotron radiation X-ray topography of lattice tilt formation in partially released InGaAs/GaAs compositionally graded layers

Ferrari, C ; Gennari, S ; Franchi, S ; Lazzarini, L ; Natali, M ; Romanato, F ; Drigo, A.V ; Baruchel, J

Journal of crystal growth, 1999-09, Vol.205 (4), p.474-480 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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The mechanics and cryogenics of GIANO-TNG
The mechanics and cryogenics of GIANO-TNG
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The mechanics and cryogenics of GIANO-TNG

Gennari, S ; Del Vecchio, C ; Mochi, I ; Oliva, E ; Origlia, L ; Tomelleri, R ; Rossettini, F ; Milani, D ; Liffredo, M ; Tommasin, D ; Roveta, G

SPIE 2006

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Raman scattering study and AFM morphological characterization of MOVPE-grown (111)-strained heterostructures
Raman scattering study and AFM morphological characterization of MOVPE-grown (111)-strained heterostructures
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Raman scattering study and AFM morphological characterization of MOVPE-grown (111)-strained heterostructures

Gennari, S. ; Attolini, G. ; Pelosi, C. ; Lottici, P.P. ; Riccò, F. ; Labardi, M. ; Allegrini, M. ; Frediani, C.

Journal of crystal growth, 1996-09, Vol.166 (1-4), p.309-313 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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10
Study of the lattice strain relaxation in the Ga1-XAlXSb/GaSb system by x-ray topography and high resolution diffraction
Study of the lattice strain relaxation in the Ga1-XAlXSb/GaSb system by x-ray topography and high resolution diffraction
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Study of the lattice strain relaxation in the Ga1-XAlXSb/GaSb system by x-ray topography and high resolution diffraction

Bocchi, C ; Germini, F ; Franchi, S ; Baraldi, A ; Gennari, S ; Magnanini, R ; Drigo, A V

Journal of materials science. Materials in electronics, 1999-05, Vol.10 (3), p.185 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer Nature B.V

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