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Triangular-Pulse Measurement for Hysteresis of High-Performance and Flexible Graphene Field-Effect Transistors
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Triangular-Pulse Measurement for Hysteresis of High-Performance and Flexible Graphene Field-Effect Transistors

Saungeun Park ; Sangchul Lee ; Mordi, Greg ; Jandhyala, Srikar ; Min-Woo Ha ; Jang-Sik Lee ; Colombo, Luigi ; Wallace, Robert M. ; Byoung Hun Lee ; Jiyoung Kim

IEEE electron device letters, 2014-02, Vol.35 (2), p.277-279 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
Voltage-Triggered Ultrafast Phase Transition in Vanadium Dioxide Switches
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Voltage-Triggered Ultrafast Phase Transition in Vanadium Dioxide Switches

You Zhou ; Xiaonan Chen ; Changhyun Ko ; Zheng Yang ; Mouli, C. ; Ramanathan, S.

IEEE electron device letters, 2013-02, Vol.34 (2), p.220-222 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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3
Attenuation of Rock Salt: Ultrasonic Lab Analysis of Gulf of Mexico Coastal Samples
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Attenuation of Rock Salt: Ultrasonic Lab Analysis of Gulf of Mexico Coastal Samples

Zong, Jingjing ; Stewart, Robert R. ; Dyaur, Nikolay

Journal of geophysical research. Solid earth, 2020-07, Vol.125 (7), p.n/a [Periódico revisado por pares]

Washington: Blackwell Publishing Ltd

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4
A Wearable Combined Wrist Pulse Measurement System Using Airbags for Pressurization
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A Wearable Combined Wrist Pulse Measurement System Using Airbags for Pressurization

Jin, Chenling ; Xia, Chunming ; Zhang, Shiyu ; Wang, Liren ; Wang, Yiqin ; Yan, Haixia

Sensors (Basel, Switzerland), 2019-01, Vol.19 (2), p.386 [Periódico revisado por pares]

Switzerland: MDPI

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5
Complementary Switching in Oxide-Based Bipolar Resistive-Switching Random Memory
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Complementary Switching in Oxide-Based Bipolar Resistive-Switching Random Memory

Nardi, F. ; Balatti, S. ; Larentis, S. ; Gilmer, D. C. ; Ielmini, D.

IEEE transactions on electron devices, 2013-01, Vol.60 (1), p.70-77 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
Identification and Compensation for D-Dot Measurement System in Transient Electromagnetic Pulse Measurement
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Identification and Compensation for D-Dot Measurement System in Transient Electromagnetic Pulse Measurement

Jin, Mengzhe ; Li, Hao ; Liu, Shanghe

Sensors (Basel, Switzerland), 2022-11, Vol.22 (21), p.8538 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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7
A Double-Pulse Technique for the Dynamic I/V Characterization of GaN FETs
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A Double-Pulse Technique for the Dynamic I/V Characterization of GaN FETs

Santarelli, Alberto ; Cignani, Rafael ; Gibiino, Gian Piero ; Niessen, Daniel ; Traverso, Pier Andrea ; Florian, Corrado ; Schreurs, Dominique M. M.-P ; Filicori, Fabio

IEEE microwave and wireless components letters, 2014-02, Vol.24 (2), p.132-134 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Origin of the SET Kinetics of the Resistive Switching in Tantalum Oxide Thin Films
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Origin of the SET Kinetics of the Resistive Switching in Tantalum Oxide Thin Films

Nishi, Yoshifumi ; Menzel, Stephan ; Fleck, Karsten ; Böttger, Ulrich ; Waser, Rainer

IEEE electron device letters, 2014-02, Vol.35 (2), p.259-261 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
Memristive FG-PVA Structures Fabricated with the Use of High Energy Xe Ion Irradiation
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Memristive FG-PVA Structures Fabricated with the Use of High Energy Xe Ion Irradiation

Ivanov, Artem I ; Antonova, Irina V ; Nebogatikova, Nadezhda A ; Olejniczak, Andrzej

Materials, 2022-03, Vol.15 (6), p.2085 [Periódico revisado por pares]

Switzerland: MDPI AG

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10
Laboratory Calibration of D-dot Sensor Based on System Identification Method
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Laboratory Calibration of D-dot Sensor Based on System Identification Method

Wang, Ke ; Duan, Yantao ; Shi, Lihua ; Qiu, Shi

Sensors (Basel, Switzerland), 2019-07, Vol.19 (15), p.3255 [Periódico revisado por pares]

Switzerland: MDPI AG

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