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Resultados de 1 a 10 de 12  para Produção Intelectual da USP

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1
Material Type:
Artigo de Congresso
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Entanglement of excited states in quantum critical systems

Francisco Castilho Alcaraz Miguel Ibáñez; Germán Sierra; International Conference on Statistical Physics - STATPHYS (24. 2010 Queensland)

Abstracts London : International Union of Pure and Applied Physics - IUPAP, 2010

London International Union of Pure and Applied Physics - IUPAP 2010

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD017164 ) e outros locais(Acessar)

2
Material Type:
Artigo
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Characterizing topological and dynamical properties of complex networks without border effects

Matheus Palhares Viana Bruno A. N Travençolo; Esther Tanck; Luciano da Fontoura Costa

Physica A Amsterdam : Elsevier v. 389, n. 8, p. 1771-1778, Apr. 2010

Amsterdam 2010

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD016928 )(Acessar)

3
Material Type:
Artigo
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Characterizing topological and dynamical properties of complex networks without border effects

Matheus Palhares Viana Bruno A. N Travençolo; Esther Tanck; Luciano da Fontoura Costa

Physica A Amsterdam : Elsevier v. 389, n. 8, p. 1771-1778, Apr. 2010

Amsterdam 2010

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD016928 )(Acessar)

4
Material Type:
Artigo
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Alternative fidelity measure between quantum states

Paulo Eduardo M. F. Mendonça Reginaldo de Jesus Napolitano; Marcelo A Marchiolli; Christopher J Foster; Yeong-Cherng Liang

Physical Review A College Park : American Physical Society - APS v. 78, n. 5, p. 052330-1-052330-11, nov. 2008

College Park 2008

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD015394 )(Acessar)

5
Material Type:
Artigo
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Sensitivity of complex networks measurements

Paulino Ribeiro Villas Boas Francisco Aparecido Rodrigues; Gonzalo Travieso; Luciano da Fontoura Costa

Journal of Statistical Mechanics Bristol : IOP Publishing p. P03009+19, Mar. 2010

Bristol 2010

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-1821637 ) e outros locais(Acessar)

6
Material Type:
Artigo
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Entropy-based approach to analyze and classify mineral aggregates

Lilian Tais de Gouveia Luciano da Fontoura Costa; Luciano José Senger; Marcelo Keese Albertini; Rodrigo Fernandes de Mello

Journal of Computing in Civil Engineering Reston : American Society of Civil Engineers - ASCE v. 25, n. 1, p. 75-84, Jan/Feb 2011

Reston 2011

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-1838947 ) e outros locais(Acessar)

7
Material Type:
Artigo
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Multi-q pattern analysis a case study in image classification

Ricardo Fabbri Wesley N Gonçalves; Francisco J. P Lopes; Odemir Martinez Bruno

Physica A Amsterdam : Elsevier v. 391, n. 19, p. 4487-4496, Oct. 2012

Amsterdam 2012

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD019615 )(Acessar)

8
Estudo da entropia como metodologia para reconhecimento de padrões
Material Type:
Artigo de Congresso
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Estudo da entropia como metodologia para reconhecimento de padrões

Lucas Assirati Odemir Martinez Bruno; Semana do Instituto de Física de São Carlos - SIFSC (2. 2012 São Carlos)

Livro de Resumos São Carlos : Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC, 2012

São Carlos Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC 2012

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD020164 )(Acessar)

9
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Artigo
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Alternative fidelity measure between quantum states

Paulo Eduardo M. F. Mendonça Reginaldo de Jesus Napolitano; Marcelo A Marchiolli; Christopher J Foster; Yeong-Cherng Liang

Physical Review A College Park : American Physical Society - APS v. 78, n. 5, p. 052330-1-052330-11, nov. 2008

College Park 2008

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD015394 )(Acessar)

10
Material Type:
Artigo
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Sensitivity of complex networks measurements

Paulino Ribeiro Villas Boas Francisco Aparecido Rodrigues; Gonzalo Travieso; Luciano da Fontoura Costa

Journal of Statistical Mechanics Bristol : IOP Publishing p. P03009+19, Mar. 2010

Bristol 2010

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-1821637 ) e outros locais(Acessar)

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