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1/f Noise and Defects in Microelectronic Materials and Devices
1/f Noise and Defects in Microelectronic Materials and Devices
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1/f Noise and Defects in Microelectronic Materials and Devices

Fleetwood, D. M.

IEEE transactions on nuclear science, 2015-08, Vol.62 (4), p.1462-1486 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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2
Compact Modeling of Total Ionizing Dose and Aging Effects in MOS Technologies
Compact Modeling of Total Ionizing Dose and Aging Effects in MOS Technologies
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Compact Modeling of Total Ionizing Dose and Aging Effects in MOS Technologies

Sanchez Esqueda, I. ; Barnaby, H. J. ; King, M. P.

IEEE transactions on nuclear science, 2015-08, Vol.62 (4), p.1501-1515 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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3
The MiniSDD-Based 1-Mpixel Camera of the DSSC Project for the European XFEL
The MiniSDD-Based 1-Mpixel Camera of the DSSC Project for the European XFEL
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The MiniSDD-Based 1-Mpixel Camera of the DSSC Project for the European XFEL

Porro, Matteo ; Andricek, Ladislav ; Aschauer, Stefan ; Castoldi, Andrea ; Donato, Mattia ; Engelke, Jan ; Erdinger, Florian ; Fiorini, Carlo ; Fischer, Peter ; Graafsma, Heinz ; Grande, Andrea ; Guazzoni, Chiara ; Hansen, Karsten ; Hauf, Steffen ; Kalavakuru, Pradeep ; Klaer, Helmut ; Tangl, Manfred ; Kugel, Andreas ; Kuster, Markus ; Lechner, Peter ; Lomidze, David ; Maffessanti, Stefano ; Manghisoni, Massimo ; Nidhi, Sneha ; Okrent, Frank ; Re, Valerio ; Reckleben, Christian ; Riceputi, Elisa ; Richter, Rainer ; Samartsev, Andrey ; Schlee, Stephan ; Soldat, Jan ; Struder, Lothar ; Szymanski, Janusz ; Turcato, Monica ; Weidenspointner, Georg ; Wunderer, Cornelia B.

IEEE transactions on nuclear science, 2021-06, Vol.68 (6), p.1334-1350 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
0.1-10 MeV Neutron Soft Error Rate in Accelerator and Atmospheric Environments
0.1-10 MeV Neutron Soft Error Rate in Accelerator and Atmospheric Environments
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0.1-10 MeV Neutron Soft Error Rate in Accelerator and Atmospheric Environments

Cecchetto, Matteo ; Alia, Ruben Garcia ; Wrobel, Frederic ; Coronetti, Andrea ; Bilko, Kacper ; Lucsanyi, David ; Fiore, Salvatore ; Bazzano, Giulia ; Pirovano, Elisa ; Nolte, Ralf

IEEE transactions on nuclear science, 2021-05, Vol.68 (5), p.873-883 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Assessment of Proton Direct Ionization for the Radiation Hardness Assurance of Deep Submicron SRAMs Used in Space Applications
Assessment of Proton Direct Ionization for the Radiation Hardness Assurance of Deep Submicron SRAMs Used in Space Applications
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Assessment of Proton Direct Ionization for the Radiation Hardness Assurance of Deep Submicron SRAMs Used in Space Applications

Coronetti, Andrea ; Alia, Ruben Garcia ; Wang, Jialei ; Tali, Maris ; Cecchetto, Matteo ; Cazzaniga, Carlo ; Javanainen, Arto ; Saigne, Frederic ; Leroux, Paul

IEEE transactions on nuclear science, 2021-05, Vol.68 (5), p.937-948 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Threshold and Characteristic LETs in SRAM SEU Cross Section Curves
Threshold and Characteristic LETs in SRAM SEU Cross Section Curves
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Threshold and Characteristic LETs in SRAM SEU Cross Section Curves

Kobayashi, Daisuke ; Uematsu, Masashi ; Hirose, Kazuyuki

IEEE transactions on nuclear science, 2023-04, Vol.70 (4), p.707-713 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
Hybrid SiC Pixel Detector for Charged-Particle Beam Monitor
Hybrid SiC Pixel Detector for Charged-Particle Beam Monitor
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Hybrid SiC Pixel Detector for Charged-Particle Beam Monitor

Kishishita, Tetsuichi ; Kosugi, Ryoji ; Fujita, Yowichi ; Fukao, Yoshinori ; Kojima, Kazutoshi ; Masumoto, Keiko ; Nishiguchi, Hajime ; Tanaka, Manobu M. ; Tanaka, Yasunori

IEEE transactions on nuclear science, 2023-06, Vol.70 (6), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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8
G4SEE: A Geant4-Based Single Event Effect Simulation Toolkit and Its Validation Through Monoenergetic Neutron Measurements
G4SEE: A Geant4-Based Single Event Effect Simulation Toolkit and Its Validation Through Monoenergetic Neutron Measurements
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G4SEE: A Geant4-Based Single Event Effect Simulation Toolkit and Its Validation Through Monoenergetic Neutron Measurements

Lucsanyi, David ; Alia, Ruben Garcia ; Bilko, Kacper ; Cecchetto, Matteo ; Fiore, Salvatore ; Pirovano, Elisa

IEEE transactions on nuclear science, 2022-03, Vol.69 (3), p.273-281 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
An SRAM SEU Cross Section Curve Physics Model
An SRAM SEU Cross Section Curve Physics Model
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An SRAM SEU Cross Section Curve Physics Model

Kobayashi, Daisuke ; Hirose, Kazuyuki ; Sakamoto, Keita ; Tsuchiya, Yuta ; Okamoto, Shogo ; Baba, Shunsuke ; Shindou, Hiroyuki ; Kawasaki, Osamu ; Makino, Takahiro ; Ohshima, Takeshi

IEEE transactions on nuclear science, 2022-03, Vol.69 (3), p.232-240 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
FELIX-Based Readout of the Single-Phase ProtoDUNE Detector
FELIX-Based Readout of the Single-Phase ProtoDUNE Detector
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FELIX-Based Readout of the Single-Phase ProtoDUNE Detector

Borga, Andrea ; Church, Eric ; Filthaut, Frank ; Gamberini, Enrico ; de Jong, Paul ; Lehmann Miotto, Giovanna ; Schreuder, Frans ; Schumacher, Jorn ; Sipos, Roland ; Vermeulen, Milo ; Wierman, Kevin ; Wood, Lynn

IEEE transactions on nuclear science, 2019-07, Vol.66 (7), p.993-997 [Periódico revisado por pares]

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