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The Transformerless Single-Phase Universal Active Power Filter for Harmonic and Reactive Power Compensation
The Transformerless Single-Phase Universal Active Power Filter for Harmonic and Reactive Power Compensation
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The Transformerless Single-Phase Universal Active Power Filter for Harmonic and Reactive Power Compensation

Nogueira Santos, Welflen Ricardo ; Cabral da Silva, Edison Roberto ; Brandao Jacobina, Cursino ; de Moura Fernandes, Eisenhawer ; Cunha Oliveira, Alexandre ; Rocha Matias, Rafael ; Franca Guedes Filho, Dalton ; Almeida, Otacilio M. ; Marinho Santos, Patryckson

IEEE transactions on power electronics, 2014-07, Vol.29 (7), p.3563-3572 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Minimizing inductive noise in system-on-a-chip with multiple power gating structures
Minimizing inductive noise in system-on-a-chip with multiple power gating structures
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Minimizing inductive noise in system-on-a-chip with multiple power gating structures

Suhwan Kim ; Kosonocky, S.V. ; Knebel, D.R. ; Stawiasz, K. ; Heidel, D. ; Immediato, M.

ESSCIRC 2004 - 29th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.03EX705), 2003, p.635-638

IEEE

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3
Phase frequency detectors for fast frequency acquisition in zero-dead-zone CPPLLs for mobile communication systems
Phase frequency detectors for fast frequency acquisition in zero-dead-zone CPPLLs for mobile communication systems
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Phase frequency detectors for fast frequency acquisition in zero-dead-zone CPPLLs for mobile communication systems

Kun-Seok Lee ; Byeong-Ha Park ; Han-il Lee ; Min Jong Yoh

ESSCIRC 2004 - 29th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.03EX705), 2003, p.525-528

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4
CMOS transistor mismatch model valid from weak to strong inversion
CMOS transistor mismatch model valid from weak to strong inversion
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CMOS transistor mismatch model valid from weak to strong inversion

Serrano-Gotarredona, T. ; Linares-Barranco, B.

ESSCIRC 2004 - 29th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.03EX705), 2003, p.627-630

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5
Bitline leakage equalization for sub-100nm caches
Bitline leakage equalization for sub-100nm caches
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Bitline leakage equalization for sub-100nm caches

Alvandpour, A. ; Somasekhar, D. ; Krishnamurthy, R. ; De, V. ; Borkar, S. ; Svensson, C.

ESSCIRC 2004 - 29th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.03EX705), 2003, p.401-404

IEEE

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6
A gate leakage reduction strategy for future CMOS circuits
A gate leakage reduction strategy for future CMOS circuits
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A gate leakage reduction strategy for future CMOS circuits

Drazdziulis, M. ; Larsson-Edefors, P.

ESSCIRC 2004 - 29th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.03EX705), 2003, p.317-320

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7
Taking a system approach to energy management
Taking a system approach to energy management
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Taking a system approach to energy management

Monticelli, D.M.

ESSCIRC 2004 - 29th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.03EX705), 2003, p.15-19

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8
Embedded CMOS distributed voltage regulator for large core loads
Embedded CMOS distributed voltage regulator for large core loads
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Embedded CMOS distributed voltage regulator for large core loads

Lima, F. ; Geraldes, A. ; Marques, T. ; Ramalho, J.N. ; Casimiro, P.

ESSCIRC 2004 - 29th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.03EX705), 2003, p.521-524

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9
A 3.3 V self-biased 2.4-2.5GHz high linearity PHEMT MMIC power amplifier
A 3.3 V self-biased 2.4-2.5GHz high linearity PHEMT MMIC power amplifier
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A 3.3 V self-biased 2.4-2.5GHz high linearity PHEMT MMIC power amplifier

Chen-Kuo Chu ; Hou-Kuei Huang ; Chih-Cheng Wang ; Yeong-Her Wang ; Chuan Chien Hsu ; Wang Wu ; Chang-Luen Wu ; Chian-Sern Chang

ESSCIRC 2004 - 29th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.03EX705), 2003, p.667-670

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Self-heating characterization and extraction method for thermal resistance and capacitance in high voltage MOSFETs
Self-heating characterization and extraction method for thermal resistance and capacitance in high voltage MOSFETs
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Self-heating characterization and extraction method for thermal resistance and capacitance in high voltage MOSFETs

Anghel, C. ; Ionescu, A.M. ; Hefyene, N. ; Gillon, R.

ESSDERC '03. 33rd Conference on European Solid-State Device Research, 2003, 2003, p.449-452

IEEE

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