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Refinado por: Nome da Publicação: Optics Communications remover assunto: Wave Optics remover
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1
The origin of the Gouy phase anomaly and its generalization to astigmatic wavefields
The origin of the Gouy phase anomaly and its generalization to astigmatic wavefields
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The origin of the Gouy phase anomaly and its generalization to astigmatic wavefields

Visser, T.D. ; Wolf, E.

Optics communications, 2010-09, Vol.283 (18), p.3371-3375 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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2
Phase control algorithms for focusing light through turbid media
Phase control algorithms for focusing light through turbid media
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Phase control algorithms for focusing light through turbid media

Vellekoop, I.M. ; Mosk, A.P.

Optics communications, 2008-06, Vol.281 (11), p.3071-3080 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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3
Smallest focal spots
Smallest focal spots
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Smallest focal spots

Grosjean, T. ; Courjon, D.

Optics communications, 2007-04, Vol.272 (2), p.314-319 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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4
Configurable three-dimensional optical cage generated from cylindrical vector beams
Configurable three-dimensional optical cage generated from cylindrical vector beams
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Configurable three-dimensional optical cage generated from cylindrical vector beams

Wang, Xi-Lin ; Ding, Jianping ; Qin, Jian-Qi ; Chen, Jing ; Fan, Ya-Xian ; Wang, Hui-Tian

Optics communications, 2009-09, Vol.282 (17), p.3421-3425 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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5
Coherence properties of the radiation from X-ray free electron laser
Coherence properties of the radiation from X-ray free electron laser
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Coherence properties of the radiation from X-ray free electron laser

Saldin, E.L. ; Schneidmiller, E.A. ; Yurkov, M.V.

Optics communications, 2008-03, Vol.281 (5), p.1179-1188 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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6
Curvature measurement by using low-birefringence photonic crystal fiber based Sagnac loop
Curvature measurement by using low-birefringence photonic crystal fiber based Sagnac loop
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Curvature measurement by using low-birefringence photonic crystal fiber based Sagnac loop

Gong, H.P. ; Chan, C.C. ; Zu, P. ; Chen, L.H. ; Dong, X.Y.

Optics communications, 2010-08, Vol.283 (16), p.3142-3144 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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7
Optical transmission properties of a single subwavelength aperture in a real metal
Optical transmission properties of a single subwavelength aperture in a real metal
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Optical transmission properties of a single subwavelength aperture in a real metal

Degiron, A. ; Lezec, H.J. ; Yamamoto, N. ; Ebbesen, T.W.

Optics communications, 2004-09, Vol.239 (1), p.61-66 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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8
Spatially-variable retardation plate for efficient generation of radially- and azimuthally-polarized beams
Spatially-variable retardation plate for efficient generation of radially- and azimuthally-polarized beams
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Spatially-variable retardation plate for efficient generation of radially- and azimuthally-polarized beams

Machavariani, G. ; Lumer, Y. ; Moshe, I. ; Meir, A. ; Jackel, S.

Optics communications, 2008-02, Vol.281 (4), p.732-738 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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9
High birefringence and low loss circular air-holes photonic crystal fiber using complex unit cells in cladding
High birefringence and low loss circular air-holes photonic crystal fiber using complex unit cells in cladding
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High birefringence and low loss circular air-holes photonic crystal fiber using complex unit cells in cladding

Yang, Tzong-Jer ; Shen, Lin-Fang ; Chau, Yuan-Fong ; Sung, Ming-Je ; Chen, Daru ; Tsai, Din Ping

Optics communications, 2008-09, Vol.281 (17), p.4334-4338 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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10
Large negative Goos–Hanchen shift at metal surfaces
Large negative Goos–Hanchen shift at metal surfaces
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Large negative Goos–Hanchen shift at metal surfaces

Leung, P.T. ; Chen, C.W. ; Chiang, H.-P.

Optics communications, 2007-08, Vol.276 (2), p.206-208 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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