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1
Markov chain Monte Carlo posterior sampling with the Hamiltonian method
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Markov chain Monte Carlo posterior sampling with the Hamiltonian method

Hanson, Kenneth M

SPIE proceedings series, 2001, Vol.4322, p.456-467

Bellingham WA: SPIE

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2
Applications of ultrafast lasers to two-photon fluorescence and lifetime imaging
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Applications of ultrafast lasers to two-photon fluorescence and lifetime imaging

Barry, Nicholas P ; Hanson, Kerry M ; Gratton, Enrico ; Clegg, Robert M ; Behne, Martin J ; Mauro, Thea

SPIE 2002

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3
Laser-based manipulation of growth direction and intracellular processes in fungal hyphae
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Laser-based manipulation of growth direction and intracellular processes in fungal hyphae

Mocanasu, R. C ; Livingston, P. J ; Hanson, K. L ; Nicolau, D. V

SPIE 2006

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4
Advances in laser absorption spectroscopy (TDLAS) for measurements of gas properties in combustion systems
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Advances in laser absorption spectroscopy (TDLAS) for measurements of gas properties in combustion systems

Hanson, Ronald K.

2015 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO), 2015, p.1-2

OSA

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5
ASTM D 5470 TIM material testing
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ASTM D 5470 TIM material testing

Hanson, K.

Twenty-Second Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement And Management Symposium, 2006, p.50-53

IEEE

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6
Diode laser absorption sensor system for measurements of combustion pollutants
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Diode laser absorption sensor system for measurements of combustion pollutants

Mihalcea, Radu M ; Baer, Douglas S ; Hanson, Ronald K

SPIE proceedings series, 1997, Vol.3172, p.106-117

Bellingham WA: SPIE

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7
Scanned-wavelength diode laser sensors for harsh environments
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Scanned-wavelength diode laser sensors for harsh environments

Jeffries, Jay B ; Sanders, Scott T ; Zhou, Xin ; Ma, Lin ; Mattison, Daniel W ; Hanson, Ronald K

SPIE 2002

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8
Diode laser sensor to monitor HCL in a plasma etch reactor
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Diode laser sensor to monitor HCL in a plasma etch reactor

Kim, Suhong ; Klimecky, Pete ; Chou, Shang-I ; Jeffries, Jay B ; Terry, Fred L ; Hanson, Ronald K

SPIE 2002

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9
Bayesian estimation of regularization parameters for deformable surface models
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Bayesian estimation of regularization parameters for deformable surface models

Cunningham, Gregory S ; Lehovich, Andre ; Hanson, Kenneth M

SPIE proceedings series, 1999, Vol.3661, p.562-573

Bellingham WA: SPIE

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10
Simplified method of estimating noise-power spectra
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Simplified method of estimating noise-power spectra

Hanson, Kenneth M

SPIE proceedings series, 1998, Vol.3336, p.243-250

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  2. 1986Até1996  (66)
  3. 1997Até2005  (189)
  4. 2006Até2015  (71)
  5. Após 2015  (35)
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