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MaskDGA: An Evasion Attack Against DGA Classifiers and Adversarial Defenses
MaskDGA: An Evasion Attack Against DGA Classifiers and Adversarial Defenses
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MaskDGA: An Evasion Attack Against DGA Classifiers and Adversarial Defenses

Sidi, Lior ; Nadler, Asaf ; Shabtai, Asaf

IEEE access, 2020, Vol.8, p.161580-161592 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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Energy Stored by Radiating Systems
Energy Stored by Radiating Systems
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Energy Stored by Radiating Systems

Schab, Kurt ; Jelinek, Lukas ; Capek, Miloslav ; Ehrenborg, Casimir ; Tayli, Doruk ; Vandenbosch, Guy A. E. ; Gustafsson, Mats

IEEE access, 2018-01, Vol.6, p.10553-10568 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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TFET Circuit Configurations Operating Below 60 mV/dec
TFET Circuit Configurations Operating Below 60 mV/dec
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TFET Circuit Configurations Operating Below 60 mV/dec

Rangasamy, Gautham ; Zhu, Zhongyunshen ; Fhager, Lars Ohlsson ; Wernersson, Lars-Erik

IEEE transactions on nanotechnology, 2024, Vol.23, p.441-447 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
2-D Eddy Current Boundary Value Problems for Power Cables With Helicoidal Symmetry
2-D Eddy Current Boundary Value Problems for Power Cables With Helicoidal Symmetry
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2-D Eddy Current Boundary Value Problems for Power Cables With Helicoidal Symmetry

Piwonski, Albert ; Dular, Julien ; Rezende, Rodrigo Silva ; Schuhmann, Rolf

IEEE transactions on magnetics, 2023-05, Vol.59 (5), p.1-4 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Multiple Resonance Prediction Through Lumped-Parameter Modeling of Transformers in High-Frequency Applications
Multiple Resonance Prediction Through Lumped-Parameter Modeling of Transformers in High-Frequency Applications
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Multiple Resonance Prediction Through Lumped-Parameter Modeling of Transformers in High-Frequency Applications

Davister, N. ; Henrotte, F. ; Frebel, F. ; Geuzaine, C.

IEEE transactions on magnetics, 2023-06, Vol.59 (6), p.1-4 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices
The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices
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The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices

Girones, Vincent ; Boch, Jerome ; Carapelle, Alain ; Chapon, Arnaud ; Maraine, Tadec ; Labau, Timothee ; Saigne, Frederic ; Alia, Ruben Garcia

IEEE transactions on nuclear science, 2023-01, Vol.70 (8), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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A Material Law Based on Neural Networks and Homogenization for the Accurate Finite Element Simulation of Laminated Ferromagnetic Cores in the Periodic Regime
A Material Law Based on Neural Networks and Homogenization for the Accurate Finite Element Simulation of Laminated Ferromagnetic Cores in the Periodic Regime
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A Material Law Based on Neural Networks and Homogenization for the Accurate Finite Element Simulation of Laminated Ferromagnetic Cores in the Periodic Regime

Purnode, Florent ; Henrotte, Francois ; Caire, Francois ; Silva, Joaquim da ; Louppe, Gilles ; Geuzaine, Christophe

IEEE transactions on magnetics, 2022-09, Vol.58 (9), p.1-4 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Electrostatic Discharge Simulation Using a GPU-Accelerated DGTD Solver Targeting Modern Graphics Processors
Electrostatic Discharge Simulation Using a GPU-Accelerated DGTD Solver Targeting Modern Graphics Processors
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Electrostatic Discharge Simulation Using a GPU-Accelerated DGTD Solver Targeting Modern Graphics Processors

Cicuttin, Matteo ; Royer, Anthony ; Binde, Peter ; Geuzaine, Christophe

IEEE transactions on magnetics, 2022-09, Vol.58 (9), p.1-4 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
Preparation of PI porous fiber membrane for recovering oil-paper insulation structure
Preparation of PI porous fiber membrane for recovering oil-paper insulation structure
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Preparation of PI porous fiber membrane for recovering oil-paper insulation structure

Zhang, Xiaorui ; Sun, Xue ; Lv, Tong ; Weng, Ling ; Chi, Minghe ; Shi, Jiahao ; Zhang, Siqi

Journal of materials science. Materials in electronics, 2020-08, Vol.31 (16), p.13344-13351 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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10
The World's First Real-Time Testbed for Massive MIMO: Design, Implementation, and Validation
The World's First Real-Time Testbed for Massive MIMO: Design, Implementation, and Validation
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The World's First Real-Time Testbed for Massive MIMO: Design, Implementation, and Validation

Malkowsky, Steffen ; Vieira, Joao ; Liang Liu ; Harris, Paul ; Nieman, Karl ; Kundargi, Nikhil ; Wong, Ian C. ; Tufvesson, Fredrik ; Owall, Viktor ; Edfors, Ove

IEEE access, 2017-01, Vol.5, p.9073-9088 [Periódico revisado por pares]

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