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1
Interface roughness in InGaAs/InP heterostructures
Interface roughness in InGaAs/InP heterostructures
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Interface roughness in InGaAs/InP heterostructures

Yuri A. Pusep G. C Gozzo; R. R LaPierre; Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat (7. 2008 Guarujá); Brazilian MRS Meeting (7. 2008 Guarujá)

Abstracts Rio de Janeiro : Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2008

Rio de Janeiro Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais - SBPMat 2008

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

2
High resolution x-ray diffraction analysis of InGaAs/InP superlattices
High resolution x-ray diffraction analysis of InGaAs/InP superlattices
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

High resolution x-ray diffraction analysis of InGaAs/InP superlattices

D. M. Cornet R. R LaPierre; D Comedi; Yuri A Pusep

Journal of Applied Physics Melville v. 100, n. 4, p. 043518-1-043518-6, Aug. 2006

Melville 2006

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD012615 )(Acessar)

3
High resolution x-ray diffraction analysis of InGaAs/InP superlattices
High resolution x-ray diffraction analysis of InGaAs/InP superlattices
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

High resolution x-ray diffraction analysis of InGaAs/InP superlattices

D. M. Cornet R. R LaPierre; D Comedi; Yuri A Pusep

Journal of Applied Physics Melville v. 100, n. 4, p. 043518-1-043518-6, Aug. 2006

Melville 2006

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD012615 )(Acessar)

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Deste Autor:

  1. Lapierre, R
  2. Pusep, Y
  3. Cornet, D
  4. Comedi, D
  5. Brazilian MRS Meeting

Neste Assunto:

  1. Óptica Eletrônica
  2. Difração Por Raios X
  3. Semicondutores
  4. Fotoluminescência

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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