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Refinado por: Nome da Publicação: Journal of Non-Crystalline Solids remover assunto: Matéria Condensada remover
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X-ray absorption spectroscopy investigation of 'Ba IND.2'Ti'Si IND.2''O IND.8'+xSi'O IND.2' glasses
X-ray absorption spectroscopy investigation of 'Ba IND.2'Ti'Si IND.2''O IND.8'+xSi'O IND.2' glasses
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X-ray absorption spectroscopy investigation of 'Ba IND.2'Ti'Si IND.2''O IND.8'+xSi'O IND.2' glasses

Valmor Roberto Mastelaro

Journal of Non-Crystalline Solids Amsterdam v. 282, p. 181-187, 2001

Amsterdam 2001

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

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X-ray absorption spectroscopy investigation of 'Ba IND.2'Ti'Si IND.2''O IND.8'+xSi'O IND.2' glasses
X-ray absorption spectroscopy investigation of 'Ba IND.2'Ti'Si IND.2''O IND.8'+xSi'O IND.2' glasses
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X-ray absorption spectroscopy investigation of 'Ba IND.2'Ti'Si IND.2''O IND.8'+xSi'O IND.2' glasses

Valmor Roberto Mastelaro

Journal of Non-Crystalline Solids Amsterdam v. 282, p. 181-187, 2001

Amsterdam 2001

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

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Small angle x-ray diffraction study of a-si h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability
Small angle x-ray diffraction study of a-si h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability
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Small angle x-ray diffraction study of a-si h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability

E L Zeballos-Velasquez Márcia Carvalho de Abreu Fantini

Amsterdam v. 209, p. 175-187, 1997 Journal of Non-Crystalline Solids

Amsterdam 1997

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Small angle x-ray diffraction study of a-si h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability
Small angle x-ray diffraction study of a-si h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability
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Small angle x-ray diffraction study of a-si h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability

E L Zeballos-Velasquez Márcia Carvalho de Abreu Fantini

Amsterdam v. 209, p. 175-187, 1997 Journal of Non-Crystalline Solids

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