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The role of the substrate on the structure of reactive sputtered Co3O4 from polycrystalline to highly oriented films
The role of the substrate on the structure of reactive sputtered Co3O4 from polycrystalline to highly oriented films
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The role of the substrate on the structure of reactive sputtered Co3O4 from polycrystalline to highly oriented films

Nilton Francelosi Azevedo Neto Guilherme A Calligaris; Lucas Jorge Affonço; Antonio Ricardo Zanatta; Márcio Medeiros Soares; José Humberto Dias da Silva

Thin Solid Films Lausanne v. 782, p. 140040-1-140040-7, Oct. 2023

Lausanne 2023

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD035640 )(Acessar)

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Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator
Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator
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Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator

Rafaela Felix da Silva Penacchio Celso I Fornari; Yorí G Camillo; Philipp Kagerer; Sebastian Buchberger; Martin Kamp; Hendrik Bentmann; Friedrich Reinert; Sergio Luiz Morelhão

Thin Solid Films Amsterdam: Elsevier, 2022 v. 750, 31 de maio de 2022, número do artigo: 139183

Amsterdam 2022

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Nuclear and magnetic structure of an epitaxial La0.67Sr0.33MnO3 film using diffraction methods
Nuclear and magnetic structure of an epitaxial La0.67Sr0.33MnO3 film using diffraction methods
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Nuclear and magnetic structure of an epitaxial La0.67Sr0.33MnO3 film using diffraction methods

Himanshu, H. ; Rebolini, E. ; Beauvois, K. ; Grenier, S. ; Mercey, B. ; Domenges, B. ; Ouladdiaf, B. ; Lepetit, M.B. ; Simon, C.

Thin solid films, 2024-07, Vol.800, p.140411, Article 140411 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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Compositionally tunable structure and optical properties of Cu1.85(CdxZn1−x)1.1SnS4.1 (0≤x≤1) monograin powders
Compositionally tunable structure and optical properties of Cu1.85(CdxZn1−x)1.1SnS4.1 (0≤x≤1) monograin powders
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Compositionally tunable structure and optical properties of Cu1.85(CdxZn1−x)1.1SnS4.1 (0≤x≤1) monograin powders

Pilvet, M. ; Kauk-Kuusik, M. ; Altosaar, M. ; Grossberg, M. ; Danilson, M. ; Timmo, K. ; Mere, A. ; Mikli, V.

Thin solid films, 2015-05, Vol.582, p.180-183 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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Effects of annealing temperature on the structural, optical, and morphological properties of Eu3+-doped Bi2MoO6 thin films
Effects of annealing temperature on the structural, optical, and morphological properties of Eu3+-doped Bi2MoO6 thin films
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Effects of annealing temperature on the structural, optical, and morphological properties of Eu3+-doped Bi2MoO6 thin films

Cho, Shinho

Thin solid films, 2022-06, Vol.751, p.139208, Article 139208 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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Effect of grain size on the thermal stability of electrodeposited nanocrystalline nickel: X-ray diffraction studies
Effect of grain size on the thermal stability of electrodeposited nanocrystalline nickel: X-ray diffraction studies
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Effect of grain size on the thermal stability of electrodeposited nanocrystalline nickel: X-ray diffraction studies

Julie, S. ; Wasekar, Nitin P. ; Parida, Pradyumna Kumar ; Santra, Sumita ; David, C. ; Kamruddin, M.

Thin solid films, 2022-03, Vol.745, p.139114, Article 139114 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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In-situ XRD study of alloyed Cu2ZnSnSe4–CuInSe2 thin films for solar cells
In-situ XRD study of alloyed Cu2ZnSnSe4–CuInSe2 thin films for solar cells
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In-situ XRD study of alloyed Cu2ZnSnSe4–CuInSe2 thin films for solar cells

Hartnauer, Stefan ; Wägele, Leonard A. ; Jarzembowski, Enrico ; Scheer, Roland

Thin solid films, 2015-05, Vol.582, p.272-275 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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Texture, residual stress and structural analysis of thin films using a combined X-ray analysis
Texture, residual stress and structural analysis of thin films using a combined X-ray analysis
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Texture, residual stress and structural analysis of thin films using a combined X-ray analysis

Lutterotti, L. ; Chateigner, D. ; Ferrari, S. ; Ricote, J.

Thin solid films, 2004-02, Vol.450 (1), p.34-41 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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Epitaxial growth of topological insulator Bi2Se3 film on Si(111) with atomically sharp interface
Epitaxial growth of topological insulator Bi2Se3 film on Si(111) with atomically sharp interface
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Epitaxial growth of topological insulator Bi2Se3 film on Si(111) with atomically sharp interface

BANSAL, Namrata ; YONG SEUNG KIM ; GUSTAFSSON, Torgny ; ANDREI, Eva ; OH, Seongshik ; EDREY, Eliav ; BRAHLEK, Matthew ; HORIBE, Yoichi ; IIDA, Keiko ; TANIMURA, Makoto ; LI, Guo-Hong ; TIAN FENG ; LEE, Hang-Dong

Thin solid films, 2011-10, Vol.520 (1), p.224-229 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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Growth and thermal stability of Sc-doped BaZrO 3 thin films deposited on single crystal substrates
Growth and thermal stability of Sc-doped BaZrO 3 thin films deposited on single crystal substrates
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Growth and thermal stability of Sc-doped BaZrO 3 thin films deposited on single crystal substrates

Nzulu, Gabriel Kofi ; Naumovska, Elena ; Karlsson, Mattias ; Eklund, Per ; Magnuson, M. ; le Febvrier, Arnaud

Thin solid films, 2023, Vol.772 [Periódico revisado por pares]

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  1. Calligaris, G
  2. Bentmann, H
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Neste Assunto:

  1. Physics
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