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The g -Good-Neighbor Conditional Diagnosability of Arrangement Graphs
The g -Good-Neighbor Conditional Diagnosability of Arrangement Graphs
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The g -Good-Neighbor Conditional Diagnosability of Arrangement Graphs

Lin, Limei ; Xu, Li ; Wang, Dajin ; Zhou, Shuming

IEEE transactions on dependable and secure computing, 2018-05, Vol.15 (3), p.542-548

IEEE

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The ManyBugs and IntroClass Benchmarks for Automated Repair of C Programs
The ManyBugs and IntroClass Benchmarks for Automated Repair of C Programs
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The ManyBugs and IntroClass Benchmarks for Automated Repair of C Programs

Le Goues, Claire ; Holtschulte, Neal ; Smith, Edward K. ; Brun, Yuriy ; Devanbu, Premkumar ; Forrest, Stephanie ; Weimer, Westley

IEEE transactions on software engineering, 2015-12, Vol.41 (12), p.1236-1256 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Conditional Diagnosability of (n,k) -Star Graphs Under the PMC Model
Conditional Diagnosability of (n,k) -Star Graphs Under the PMC Model
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Conditional Diagnosability of (n,k) -Star Graphs Under the PMC Model

Chang, Nai-Wen ; Hsieh, Sun-Yuan

IEEE transactions on dependable and secure computing, 2018-03, Vol.15 (2), p.207-216

Washington: IEEE

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A Formal Specification and Verification Framework for Timed Security Protocols
A Formal Specification and Verification Framework for Timed Security Protocols
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A Formal Specification and Verification Framework for Timed Security Protocols

Li, Li ; Sun, Jun ; Liu, Yang ; Sun, Meng ; Dong, Jin-Song

IEEE transactions on software engineering, 2018-08, Vol.44 (8), p.725-746 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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K-ST: A Formal Executable Semantics of the Structured Text Language for PLCs
K-ST: A Formal Executable Semantics of the Structured Text Language for PLCs
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K-ST: A Formal Executable Semantics of the Structured Text Language for PLCs

Wang, Kun ; Wang, Jingyi ; Poskitt, Christopher M. ; Chen, Xiangxiang ; Sun, Jun ; Cheng, Peng

IEEE transactions on software engineering, 2023-10, Vol.49 (10), p.4796-4813 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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16
Looking For Novelty in Search-Based Software Product Line Testing
Looking For Novelty in Search-Based Software Product Line Testing
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Looking For Novelty in Search-Based Software Product Line Testing

Xiang, Yi ; Huang, Han ; Li, Miqing ; Li, Sizhe ; Yang, Xiaowei

IEEE transactions on software engineering, 2022-07, Vol.48 (7), p.2317-2338 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Multi-User Multi-Keyword Rank Search Over Encrypted Data in Arbitrary Language
Multi-User Multi-Keyword Rank Search Over Encrypted Data in Arbitrary Language
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Multi-User Multi-Keyword Rank Search Over Encrypted Data in Arbitrary Language

Yang, Yang ; Liu, Ximeng ; Deng, Robert H.

IEEE transactions on dependable and secure computing, 2020-03, Vol.17 (2), p.320-334

Washington: IEEE

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Series acceleration formulas obtained from experimentally discovered hypergeometric recursions
Series acceleration formulas obtained from experimentally discovered hypergeometric recursions
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Series acceleration formulas obtained from experimentally discovered hypergeometric recursions

Levrie, Paul ; Campbell, John

Discrete mathematics and theoretical computer science, 2023-01, Vol.24, no 2 (Analysis of Algorithms) [Periódico revisado por pares]

DMTCS

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19
Inversion sequences avoiding 021 and another pattern of length four
Inversion sequences avoiding 021 and another pattern of length four
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Inversion sequences avoiding 021 and another pattern of length four

Mansour, Toufik ; Yıldırım, Gökhan

Discrete mathematics and theoretical computer science, 2023-11, Vol.25:2 (Combinatorics) [Periódico revisado por pares]

Discrete Mathematics & Theoretical Computer Science

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20
Robust Detection of Malicious URLs With Self-Paced Wide & Deep Learning
Robust Detection of Malicious URLs With Self-Paced Wide & Deep Learning
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Robust Detection of Malicious URLs With Self-Paced Wide & Deep Learning

Liang, Yunji ; Wang, Qiushi ; Xiong, Kang ; Zheng, Xiaolong ; Yu, Zhiwen ; Zeng, Daniel

IEEE transactions on dependable and secure computing, 2022-03, Vol.19 (2), p.717-730

Washington: IEEE

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