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Computers & Applied Sciences Complete - EBSCO
assunto:
Exact Sciences And Technology
Engineering, Electrical & Electronic
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Exact Sciences And Technology
Engineering, Electrical & Electronic
| Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
|---|---|---|---|
| 1 |
Material Type: Artigo
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An Efficient State Recovery Attack on the X-FCSR Family of Stream CiphersStankovski, Paul ; Hell, Martin ; Johansson, ThomasJournal of cryptology, 2014, Vol.27 (1), p.1-22 [Periódico revisado por pares]Boston: Springer USTexto completo disponível |
| 2 |
Material Type: Artigo
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Breaking the Stream Ciphers F-FCSR-H and F-FCSR-16 in Real TimeHell, Martin ; Johansson, ThomasJournal of cryptology, 2011-07, Vol.24 (3), p.427-445 [Periódico revisado por pares]New York: Springer-VerlagTexto completo disponível |
| 3 |
Material Type: Artigo
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Design, Modeling, Fabrication, and Evaluation of Thermoelectric Generators with Hot-Wire Chemical Vapor Deposited Polysilicon as Thermoelement Materialde Leon, Maria Theresa ; Tarazona, Antulio ; Chong, Harold ; Kraft, MichaelJournal of electronic materials, 2014-11, Vol.43 (11), p.4070-4081 [Periódico revisado por pares]Boston: Springer USTexto completo disponível |
| 4 |
Material Type: Artigo
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Crosstalk Channel Estimation via Standardized Two-Port MeasurementsLindqvist, Fredrik ; Lindqvist, Neiva ; Dortschy, Boris ; Ödling, Per ; Börjesson, Per Ola ; Ericson, Klas ; Pelaes, EvaldoEURASIP journal on advances in signal processing, 2008-01, Vol.2008 (1), Article 916865 [Periódico revisado por pares]Cham: Springer International PublishingTexto completo disponível |
| 5 |
Material Type: Artigo
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A low-cost time-hopping impulse radio system for high data rate transmissionMOLISCH, Andreas F ; LI, Ye Geoffrey ; POOR, H. Vincent ; HAIMOVICH, Alexander ; JINYUN ZHANG ; NAKACHE, Yves-Paul ; ORLIK, Philip ; MIYAKE, Makoto ; YUNNAN WU ; GEZICI, Sinan ; SHENG, Harry ; KUNG, S. Y ; KOBAYASHI, HEURASIP Journal on Applied Signal Processing, 2005-03, Vol.2005 (3), p.397-412, Article 683054 [Periódico revisado por pares]New York, NY: Hindawi Publishing CorporationTexto completo disponível |
| 6 |
Material Type: Artigo
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Almost k-wise independent sample spaces and their cryptologic applicationsKUROSAWA, Kaoru ; JOHANSSON, Thomas ; STINSON, Douglas RJournal of cryptology, 2001-09, Vol.14 (4), p.231-253 [Periódico revisado por pares]New York, NY: SpringerTexto completo disponível |
| 7 |
Material Type: Artigo
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Strain Reduction in Selectively Grown CdTe by MBE on Nanopatterned Silicon on Insulator (SOI) SubstratesBommena, R. ; Seldrum, T. ; Samain, L. ; Sporken, R. ; Sivananthan, S. ; Brueck, S.R.J.Journal of electronic materials, 2008-09, Vol.37 (9), p.1255-1260 [Periódico revisado por pares]Boston: Springer USTexto completo disponível |
| 8 |
Material Type: Artigo
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Structural properties of relaxed Ge buffer layers on Si(001): effect of layer thickness and low temperature Si initial bufferMYRBERG, T ; JACOB, A. P ; NUR, O ; FRIESEL, M ; WILLANDER, M ; PATEL, C. J ; CAMPIDELLI, Y ; HERNANDEZ, C ; KERMARREC, O ; BENSAHEL, DJournal of materials science. Materials in electronics, 2004-07, Vol.15 (7), p.411-417 [Periódico revisado por pares]Norwell, MA: SpringerTexto completo disponível |
| 9 |
Material Type: Artigo
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A Transient Stability Tool Combining the SIME Method with MATLAB and SIMULINKBhat, S. ; Glavic, M. ; Pavella, M. ; Bhatti, T. S. ; Kothari, D. P.International journal of electrical engineering & education, 2006-04, Vol.43 (2), p.119-133 [Periódico revisado por pares]London, England: SAGE PublicationsTexto completo disponível |
| 10 |
Material Type: Artigo
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Realization of electroplating molds with thick positive SPR 220-7 photoresistKUKHARENKA, E ; KRAFT, MJournal of materials science. Materials in electronics, 2003-05, Vol.14 (5-7), p.319-322 [Periódico revisado por pares]Norwell, MA: SpringerTexto completo disponível |
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