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Combined electrochemical atomic layer epitaxy and microcontact printing techniques
Combined electrochemical atomic layer epitaxy and microcontact printing techniques
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Combined electrochemical atomic layer epitaxy and microcontact printing techniques

Carlà, F. ; Innocenti, M. ; Loglio, F. ; Muniz-Miranda, M. ; Salvi, P.R. ; Gellini, C. ; Cavallini, M. ; Felici, R. ; Lastraioli, E. ; Salvietti, E. ; Foresti, M.L.

Materials science in semiconductor processing, 2009-02, Vol.12 (1), p.21-24 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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2
Cathodoluminescence characterization of β-SiC nanowires and surface-related silicon dioxide
Cathodoluminescence characterization of β-SiC nanowires and surface-related silicon dioxide
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Cathodoluminescence characterization of β-SiC nanowires and surface-related silicon dioxide

Fabbri, F. ; Cavallini, A. ; Attolini, G. ; Rossi, F. ; Salviati, G. ; Dierre, B. ; Fukata, N. ; Sekiguchi, T.

Materials science in semiconductor processing, 2008-10, Vol.11 (5), p.179-181 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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3
Oxygen precipitate precursors and low temperature gettering processes. II. DLTS analysis of deep levels associated to oxide precipitates
Oxygen precipitate precursors and low temperature gettering processes. II. DLTS analysis of deep levels associated to oxide precipitates
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Oxygen precipitate precursors and low temperature gettering processes. II. DLTS analysis of deep levels associated to oxide precipitates

Yakimov, E. ; Feklisova, D. ; Castaldini, A. ; Cavallini, A. ; Cadeo, S. ; Pizzini, S.

Materials science in semiconductor processing, 1999-04, Vol.2 (1), p.69-74 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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4
Correlation for Condensation Heat Transfer in a 4.0 mm Smooth Tube and Relationship with R1234ze(E), R404A, and R290
Correlation for Condensation Heat Transfer in a 4.0 mm Smooth Tube and Relationship with R1234ze(E), R404A, and R290
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Correlation for Condensation Heat Transfer in a 4.0 mm Smooth Tube and Relationship with R1234ze(E), R404A, and R290

Inoue, Norihiro ; Hirose, Masataka ; Jige, Daisuke ; Ichinose, Junya

Applied sciences, 2018-11, Vol.8 (11), p.2267 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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5
Surface properties of AlInGaN/GaN heterostructure
Surface properties of AlInGaN/GaN heterostructure
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Surface properties of AlInGaN/GaN heterostructure

Minj, A. ; Skuridina, D. ; Cavalcoli, D. ; Cros, A. ; Vogt, P. ; Kneissl, M. ; Giesen, C. ; Heuken, M.

Materials science in semiconductor processing, 2016-11, Vol.55, p.26-31 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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6
Electrical Characterization of High Energy Electron Irradiated Ni/4H-SiC Schottky Barrier Diodes
Electrical Characterization of High Energy Electron Irradiated Ni/4H-SiC Schottky Barrier Diodes
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Electrical Characterization of High Energy Electron Irradiated Ni/4H-SiC Schottky Barrier Diodes

Paradzah, A. T. ; Omotoso, E. ; Legodi, M. J. ; Auret, F. D. ; Meyer, W. E. ; Diale, M.

Journal of electronic materials, 2016-08, Vol.45 (8), p.4177-4182 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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7
Characterization of AlInN/AlN/GaN Heterostructures with Different AlN Buffer Thickness
Characterization of AlInN/AlN/GaN Heterostructures with Different AlN Buffer Thickness
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Characterization of AlInN/AlN/GaN Heterostructures with Different AlN Buffer Thickness

Çörekçi, S. ; Dugan, S. ; Öztürk, M. K. ; Çetin, S. Ş. ; Çakmak, M. ; Özçelik, S. ; Özbay, E.

Journal of electronic materials, 2016-07, Vol.45 (7), p.3278-3284 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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8
Experimental Study of Condensation Heat Transfer and Pressure Drop inside a Small Diameter Microfin and Smooth Tube at Low Mass Flux Condition
Experimental Study of Condensation Heat Transfer and Pressure Drop inside a Small Diameter Microfin and Smooth Tube at Low Mass Flux Condition
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Experimental Study of Condensation Heat Transfer and Pressure Drop inside a Small Diameter Microfin and Smooth Tube at Low Mass Flux Condition

Bashar, M. Khairul ; Nakamura, Keisuke ; Kariya, Keishi ; Miyara, Akio

Applied sciences, 2018-11, Vol.8 (11), p.2146 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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9
FIB micro-milled sapphire for GaN maskless epitaxial lateral overgrowth: a systematic study on patterning geometry
FIB micro-milled sapphire for GaN maskless epitaxial lateral overgrowth: a systematic study on patterning geometry
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FIB micro-milled sapphire for GaN maskless epitaxial lateral overgrowth: a systematic study on patterning geometry

Jelmakas, E. ; Kadys, A. ; Dmukauskas, M. ; Grinys, T. ; Tomašiūnas, R. ; Dobrovolskas, D. ; Gervinskas, G. ; Juodkazis, S. ; Talaikis, M. ; Niaura, G.

Journal of materials science. Materials in electronics, 2021-06, Vol.32 (11), p.14532-14541 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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10
Assessment of Terrorism Risk to Critical Infrastructures: The Case of a Power-Supply Substation
Assessment of Terrorism Risk to Critical Infrastructures: The Case of a Power-Supply Substation
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Assessment of Terrorism Risk to Critical Infrastructures: The Case of a Power-Supply Substation

Yao, Xijun ; Wei, Hsi-Hsien ; Shohet, Igal M. ; Skibniewski, Miroslaw J.

Applied sciences, 2020-10, Vol.10 (20), p.7162 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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