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Refinado por: data de publicação: 2000Até2012 remover tipo de recurso: Recursos Textuais remover
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Current mapping of GaN films by conductive atomic force microscopy
Current mapping of GaN films by conductive atomic force microscopy
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Recurso Textual 		Adicionar ao Meu Espaço

Current mapping of GaN films by conductive atomic force microscopy

Pomarico, A. A ; Huang, D ; Dickinson, J ; Baski, A. A ; Cingolani, R ; Morkoç, Hadis ; Molnar, R

VCU Scholars Compass 2003

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2
Improvement of n-GaN Schottky diode rectifying characteristics using KOH etching
Improvement of n-GaN Schottky diode rectifying characteristics using KOH etching
Material Type:
Recurso Textual 		Adicionar ao Meu Espaço

Improvement of n-GaN Schottky diode rectifying characteristics using KOH etching

Spradlin, J ; Doğan, S ; Mikkelson, M ; Huang, D ; He, L ; Johnstone, D ; Morkoç, Hadis ; Molnar, R. J

VCU Scholars Compass 2003

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