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Ieee Instrumentation & Measurement Magazine
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Material Type: magazinearticle
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Towards fourth industrial revolution impact: smart product based on RFID technologyMurofushi, Rodrigo H. ; Tavares, Jose J. P. Z. S.IEEE instrumentation & measurement magazine, 2017-04, Vol.20 (2), p.51-56New York: IEEETexto completo disponível |
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