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1	Material Type: Artigo		Fully sealed, high-brightness carbon-nanotube field-emission display Choi, W. B. ; Chung, D. S. ; Kang, J. H. ; Kim, H. Y. ; Jin, Y. W. ; Han, I. T. ; Lee, Y. H. ; Jung, J. E. ; Lee, N. S. ; Park, G. S. ; Kim, J. M. Applied physics letters, 1999-11, Vol.75 (20), p.3129-3131 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Memory effect of ZnO nanocrystals embedded in an insulating polyimide layer Jung, J. H. ; Jin, J. Y. ; Lee, I. ; Kim, T. W. ; Roh, H. G. ; Kim, Y.-H. Applied physics letters, 2006-03, Vol.88 (11) [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Horizontal molecular orientation in solution-processed organic light-emitting diodes Zhao, L. ; Komino, T. ; Inoue, M. ; Kim, J.-H. ; Ribierre, J. C. ; Adachi, C. Applied physics letters, 2015-02, Vol.106 (6) [Periódico revisado por pares] Melville: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		High mobility InGaZnO4 thin-film transistors on paper Lim, Wantae ; Douglas, E. A. ; Kim, S.-H. ; Norton, D. P. ; Pearton, S. J. ; Ren, F. ; Shen, H. ; Chang, W. H. Applied physics letters, 2009-02, Vol.94 (7) [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		High performance indium gallium zinc oxide thin film transistors fabricated on polyethylene terephthalate substrates Lim, Wantae ; Jang, Jung Hun ; Kim, S.-H. ; Norton, D. P. ; Craciun, V ; Pearton, S. J. ; Ren, F. ; Shen, H. Applied physics letters, 2008-08, Vol.93 (8), p.082102-082102-3 [Periódico revisado por pares] United States: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		Thickness dependence on crystalline structure and interfacial reactions in HfO2 films on InP (001) grown by atomic layer deposition Kang, Y. S. ; Kim, C. Y. ; Cho, M. -H. ; Chung, K. B. ; An, C. -H. ; Kim, H. ; Lee, H. J. ; Kim, C. S. ; Lee, T. G. Applied physics letters, 2010-10, Vol.97 (17) [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Observation of bistable resistance memory switching in CuO thin films Kim, C. H. ; Jang, Y. H. ; Hwang, H. J. ; Sun, Z. H. ; Moon, H. B. ; Cho, J. H. Applied physics letters, 2009-03, Vol.94 (10), p.102107-102107-3 [Periódico revisado por pares] American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Broadband optomechanical transduction of nanomagnetic spin modes Kim, P. H. ; Fani Sani, F. ; Freeman, M. R. ; Davis, J. P. Applied physics letters, 2018-08, Vol.113 (8) [Periódico revisado por pares] Melville: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Electrical observations of filamentary conductions for the resistive memory switching in NiO films Kim, D. C. ; Seo, S. ; Ahn, S. E. ; Suh, D.-S. ; Lee, M. J. ; Park, B.-H. ; Yoo, I. K. ; Baek, I. G. ; Kim, H.-J. ; Yim, E. K. ; Lee, J. E. ; Park, S. O. ; Kim, H. S. ; Chung, U-In ; Moon, J. T. ; Ryu, B. I. Applied physics letters, 2006-05, Vol.88 (20), p.202102-202102-3 [Periódico revisado por pares] American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Memristive adaptive filters Driscoll, T. ; Quinn, J. ; Klein, S. ; Kim, H. T. ; Kim, B. J. ; Pershin, Yu V. ; Di Ventra, M. ; Basov, D. N. Applied physics letters, 2010-08, Vol.97 (9), p.093502-093502-3 [Periódico revisado por pares] American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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